[发明专利]一种电路参数值获取方法及装置在审
申请号: | 201910440448.8 | 申请日: | 2019-05-24 |
公开(公告)号: | CN110163162A | 公开(公告)日: | 2019-08-23 |
发明(设计)人: | 施贤贵;李骊 | 申请(专利权)人: | 北京华捷艾米科技有限公司 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/32;G06K9/62;G01R21/06 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 100193 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电路 被测对象 参数图像 目标电路 电路参数 数值获取 图像 测量设备 获取目标 拍摄 检测 申请 | ||
1.一种电路参数值获取方法,其特征在于,所述方法包括:
获取目标电路参数图像,所述目标电路参数图像是对被测对象的电路参数值进行拍摄得到的图像,所述被测对象的电路参数值为测量设备对被测对象的电路参数进行检测而显示的电路参数值,所述电路参数值包括电压值和/或电流值;
对所述目标电路参数图像进行识别,得到所述目标电路参数图像中的电路参数值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述目标电路参数图像进行识别,得到所述目标电路参数图像中的电路参数值包括:
将所述目标电路参数图像输入到图像识别模型中,得到所述目标电路参数图像中的电路参数值,所述图像识别模型是对训练电路参数图像和所述训练电路参数图像对应的电路参数值进行训练得到,所述训练电路参数图像是对训练对象的电路参数值进行拍摄得到的图像,所述训练对象的电路参数值为所述测量设备对训练对象的电路参数进行检测而显示的电路参数值。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述对所述目标电路参数图像进行识别,得到所述目标电路参数图像中的电路参数值包括:
从所述目标电路参数图像中提取预设区域对应的图像,所述预设区域为包括所述被测对象的电路参数值的区域;
对所述预设区域对应的图像进行识别,得到所述目标电路参数图像中的电路参数值。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述对所述预设区域对应的图像进行识别,得到所述目标电路参数图像中的电路参数值包括:
对所述预设区域对应的图像进行二值化处理,得到处理后图像;
对所述处理后图像进行识别,得到所述目标电路参数图像中的电路参数值。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,目标电路参数图像为多个,所述方法还包括:
将所述多个目标电路参数图像分别对应的电路参数值中出现次数最多的电路参数值确定为所述被测对象的电路参数值。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述被测对象为芯片,所述被测对象的电路参数值为测量设备对所述芯片在预设工作模式下的电路参数进行检测而显示的电路参数值。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,若所述电路参数值包括电压值和电流值,则所述方法还包括:
根据所述被测对象的电压值和电流值计算所述被测对象的功耗。
8.一种电路参数值获取装置,其特征在于,所述装置包括:
图像获取单元,用于获取目标电路参数图像,所述目标电路参数图像是对被测对象的电路参数值进行拍摄得到的图像,所述被测对象的电路参数值为测量设备对被测对象的电路参数进行检测而显示的电路参数值,所述电路参数值包括电压值和/或电流值;
参数获取单元,用于对所述目标电路参数图像进行识别,得到所述目标电路参数图像中的电路参数值。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述参数获取单元,用于:
将所述目标电路参数图像输入到图像识别模型中,得到所述目标电路参数图像中的电路参数值,所述图像识别模型是对训练电路参数图像和所述训练电路参数图像对应的电路参数值进行训练得到,所述训练电路参数图像是对训练对象的电路参数值进行拍摄得到的图像,所述训练对象的电路参数值为所述测量设备对训练对象的电路参数进行检测而显示的电路参数值。
10.根据权利要求8或9所述的装置,其特征在于,所述参数获取单元,用于:
从所述目标电路参数图像中提取预设区域对应的图像,所述预设区域为包括所述被测对象的电路参数值的区域;对所述预设区域对应的图像进行识别,得到所述目标电路参数图像中的电路参数值。
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