[发明专利]一种电路参数值获取方法及装置在审
申请号: | 201910440448.8 | 申请日: | 2019-05-24 |
公开(公告)号: | CN110163162A | 公开(公告)日: | 2019-08-23 |
发明(设计)人: | 施贤贵;李骊 | 申请(专利权)人: | 北京华捷艾米科技有限公司 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/32;G06K9/62;G01R21/06 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 100193 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电路 被测对象 参数图像 目标电路 电路参数 数值获取 图像 测量设备 获取目标 拍摄 检测 申请 | ||
本申请实施例公开了一种电路参数值获取方法及装置。其中,所述方法包括:获取目标电路参数图像,所述目标电路参数图像是对被测对象的电路参数值进行拍摄得到的图像,所述被测对象的电路参数值为测量设备对被测对象的电路参数进行检测而显示的电路参数值,所述电路参数值包括电压值和/或电流值;对所述目标电路参数图像进行识别,得到所述目标电路参数图像中的电路参数值。
技术领域
本申请涉及电路领域,尤其涉及一种电路参数值获取方法及装置。
背景技术
在一些应用场景中,需要对被测对象(例如芯片)的电路参数(例如被测对象的电压值和/或电流值)进行检测。而目前常用的检测方法是工作人员将测量设备(例如万用表)与被测对象进行连接,测量设备会显示出被测对象的电路参数值,工作人员读取该电路参数值,然后进行记录,检测效率较低。
发明内容
为了解决现有技术中存在的技术问题,本申请提供了一种电路参数值获取方法及装置,实现自动的读取测量设备显示的电路参数值,减少工作人员负担,提高检测效率的目的。
第一方面,本申请提供了一种电路参数值获取方法,所述方法包括:
获取目标电路参数图像,所述目标电路参数图像是对被测对象的电路参数值进行拍摄得到的图像,所述被测对象的电路参数值为测量设备对被测对象的电路参数进行检测而显示的电路参数值,所述电路参数值包括电压值和/或电流值;
对所述目标电路参数图像进行识别,得到所述目标电路参数图像中的电路参数值。
可选的,所述对所述目标电路参数图像进行识别,得到所述目标电路参数图像中的电路参数值包括:
将所述目标电路参数图像输入到图像识别模型中,得到所述目标电路参数图像中的电路参数值,所述图像识别模型是对训练电路参数图像和所述训练电路参数图像对应的电路参数值进行训练得到,所述训练电路参数图像是对训练对象的电路参数值进行拍摄得到的图像,所述训练对象的电路参数值为所述测量设备对训练对象的电路参数进行检测而显示的电路参数值。
可选的,所述对所述目标电路参数图像进行识别,得到所述目标电路参数图像中的电路参数值包括:
从所述目标电路参数图像中提取预设区域对应的图像,所述预设区域为包括所述被测对象的电路参数值的区域;
对所述预设区域对应的图像进行识别,得到所述目标电路参数图像中的电路参数值。
可选的,所述对所述预设区域对应的图像进行识别,得到所述目标电路参数图像中的电路参数值包括:
对所述预设区域对应的图像进行二值化处理,得到处理后图像;
对所述处理后图像进行识别,得到所述目标电路参数图像中的电路参数值。
可选的,目标电路参数图像为多个,所述方法还包括:
将所述多个目标电路参数图像分别对应的电路参数值中出现次数最多的电路参数值确定为所述被测对象的电路参数值。
可选的,所述被测对象为芯片,所述被测对象的电路参数值为测量设备对所述芯片在预设工作模式下的电路参数进行检测而显示的电路参数值。
可选的,若所述电路参数值包括电压值和电流值,则所述方法还包括:
根据所述被测对象的电压值和电流值计算所述被测对象的功耗。
第二方面,本申请提供了一种电路参数值获取装置,所述装置包括:
图像获取单元,用于获取目标电路参数图像,所述目标电路参数图像是对被测对象的电路参数值进行拍摄得到的图像,所述被测对象的电路参数值为测量设备对被测对象的电路参数进行检测而显示的电路参数值,所述电路参数值包括电压值和/或电流值;
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