[发明专利]LED外延结构及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201910444061.X 申请日: 2019-05-27
公开(公告)号: CN110148656A 公开(公告)日: 2019-08-20
发明(设计)人: 曾颀尧;纪秉夆;汪琼;邢琨;冷鑫钰;陈柏松 申请(专利权)人: 芜湖德豪润达光电科技有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/02;H01L33/06;H01L33/12
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 熊文杰;李双皓
地址: 241000 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 空穴 电子阻挡层 多层结构层 多量子阱层 多层 穿插设置 交替层叠 浓度增大 制作 背离 穿过 申请
【权利要求书】:

1.一种LED外延结构,其特征在于,包括:

N型半导体层(200),设置于衬底(100)的一侧;

多量子阱层(300),设置于所述N型半导体层(200)背离所述衬底(100)的一侧;

多层结构层(400),设置于所述多量子阱层(300)背离所述N型半导体层(200)的表面,所述多层结构层(400)包括多个电子阻挡层(410)和多个P型半导体层(420),所述电子阻挡层(410)与所述P型半导体层(420)交替层叠设置。

2.如权利要求1所述的LED外延结构,其特征在于,所述电子阻挡层(410)包括掺Mg的P型铝铟镓氮层,其中Mg的浓度为1×1016atoms/cm3-1×1023atoms/cm3

3.如权利要求2所述的LED外延结构,其特征在于,所述电子阻挡层(410)的厚度范围为0.35nm-50nm。

4.如权利要求3所述的LED外延结构,其特征在于,所述电子阻挡层(410)的厚度为2nm。

5.如权利要求1所述的LED外延结构,其特征在于,所述P型半导体层(420)包括掺Mg的P型氮化镓层,其中Mg的浓度为1×1016atoms/cm3-1×1023atoms/cm3

6.如权利要求5所述的LED外延结构,其特征在于,所述P型半导体层(420)的厚度为0.35nm-50nm。

7.如权利要求6所述的LED外延结构,其特征在于,所述P型半导体层(420)的厚度为4nm。

8.如权利要求1所述的LED外延结构,其特征在于,所述电子阻挡层(410)与所述P型半导体层(420)的交替层叠次数为2-15。

9.如权利要求1所述的LED外延结构,其特征在于,还包括:

成核层(110),设置于所述衬底(100)的一侧,且所述N型半导体层(200)设置于所述成核层(110)背离所述衬底(100)的一侧。

10.如权利要求9所述的LED外延结构,其特征在于,还包括:

缓冲层(120),设置于所述成核层(110)背离所述衬底(100)的表面,且所述N型半导体层(200)设置于所述缓冲层(120)背离所述成核层(110)的表面。

11.如权利要求10所述的LED外延结构,其特征在于,还包括:

接触层(500),设置于所述多层结构层(400)背离所述多量子阱层(300)的表面。

12.一种LED外延结构的制作方法,其特征在于,所述制作方法包括:

在衬底(100)的一侧形成N型半导体层(200);

在所述N型半导体层(200)背离所述衬底(100)的一侧形成多量子阱层(300);

在所述多量子阱层(300)背离所述N型半导体层(200)的表面形成多层结构层(400),所述多层结构层(400)包括多个电子阻挡层(410)和多个P型半导体层(420),所述电子阻挡层(410)与所述P型半导体层(420)交替层叠设置。

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