[发明专利]用于对样本进行热分析的测量装置和方法

权利要求书

1.用于对样本进行热分析的测量装置，其具有-坩埚(10)，所述坩埚用于使样本(P)放置在所述坩埚(10)中，

-传感器(20)，所述传感器用于测量布置在所述传感器(20)上的坩埚(10)中的样本(P)的样本温度，

其特征在于，所述测量装置还具有外坩埚(30-1)，所述外坩埚用于使所述坩埚(10)支承在所述外坩埚(30-1)中，其中，所述坩埚(10)由坩埚材料构成并且所述外坩埚(30-1)由与所述坩埚材料不同的外坩埚材料构成。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述外坩埚(30-1)的底部整面地贴靠在所述坩埚(10)的底部上。

3.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述外坩埚(30-1)的底部沿着环形的接触面贴靠在所述坩埚(10)的底部上。

4.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述外坩埚(30-1)的侧面整面地贴靠在所述坩埚(10)的侧面上。

5.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述外坩埚(30-1)和所述坩埚(10)如此造型，使得由此通过形状配合连接实现所述坩埚(10)在所述外坩埚(30-1)中的对中。

6.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述外坩埚(30-1)的高度的尺寸如此确定，使得所述外坩埚(30-1)与所述坩埚(10)的高度的1％至60％、尤其10％至40％重叠。

7.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述传感器(20)的上侧具有向上突出的传感器边缘(22)或另一边缘边界并且借此通过形状配合连接实现所述外坩埚(30-1)在所述传感器(20)上的对中。

8.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述外坩埚材料是金属或金属合金，尤其钨或钨合金。

9.根据权利要求1至7中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述外坩埚材料是陶瓷材料，尤其基于Al₂O₃或Y₂O₃的陶瓷材料。

10.用于对样本进行热分析的方法，包括

-根据温度程序对布置在样本腔中的样本(P)调温，在温度程序的进程中改变在样本腔内部的腔温度，

-在温度程序的进程中测量所述样本(P)的样本温度，

其特征在于，在所述样本腔中装入根据权利要求1至9中任一项所述的测量装置，所述测量装置用于设置所述样本(P)并且用于测量样本温度。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述腔温度在温度程序的进程中所具有的最大值至少为500℃。