[发明专利]一种X射线探测器校正方法、装置、系统及存储介质

说明书

本发明适用于X射线探测器自动化技术领域，提供了一种X射线探测器校正方法、装置、系统及存储介质，方法包括：获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集；基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正；设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集；基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正。通过控制不同的X射线剂量点并曝光，控制所述探测器采集一组暗场图像集和多组不同X射线剂量点的亮场图像集，并基于采集到的图像集生成对应的校正模板，最后使用上述校正模板自动校正探测器，提高了X射线探测器校正的效率。

技术领域

本发明属于X射线探测器自动化技术领域，尤其涉及一种X射线探测器校正方法、装置、系统及存储介质。

背景技术

在口内X射线探测器(传感器)临床使用之前，需要对其进行图像校正。图像校正可分点单点校正和多点校正。单点校正即在相同X射线剂量下，采集一个系列的暗场图像和一个系列亮场图像，生成暗场、亮场、坏点等校正模板。多点校正是在不同X射线剂量下，采集一个系列的暗场图像和多个系列的亮场图像，最终生成暗场、亮场、坏点等校正模板。由于X射线探测器的量子探测效率(Detective Quantum Efficiency,DQE)与X射线剂量之间，呈现非线性关系，故当前多采用多点校正模式进行X射线探测器校正。

目前，多点校正X射线探测器的模式，需要手工设置X射线初始剂量、人工评估亮场图像的均值是否在预定范围内，然后再手工调整X射线剂量值，重新采集、评估图像并生成校正文件。在整个校正过程中，需要多次手工调整X射线剂量，以及多次的X射线曝光操作，并需要多次人工评估图像是否符合预期的要求，自动化水平低导致效率低。

发明内容

本发明实施例提供一种X射线探测器校正方法，旨在解决现有X射线探测器校正自动化水平低、效率低的问题。

本发明实施例是这样实现的，提供一种X射线探测器校正方法，包括：

获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集；

基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正；

设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集；

基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正。

更进一步地，所述获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集的步骤具体包括：

在控制信号的作用下连续从探测器读取至少一帧暗场图像。

更进一步地，所述基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正的步骤具体包括：

计算所述暗场图像集的均值作为所述暗场校正模板；

计算所述暗场校正模板的均值得到模板均值；

如果所述模板均值处于预设的范围内，则暗场校正完成。

更进一步地，所述设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集的步骤具体包括：

设置一个X射线剂量点并曝光；

在控制信号的作用下连续从探测器读取至少一帧亮场图像组成一个亮场图像集；

重新设置X射线剂量点再获取对应剂量点的亮场图像集。

更进一步地，所述基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正的步骤具体包括：