[发明专利]一种沟槽结构结势垒肖特基二极管在审
申请号: | 201910459140.8 | 申请日: | 2019-05-29 |
公开(公告)号: | CN110212022A | 公开(公告)日: | 2019-09-06 |
发明(设计)人: | 张玉明;宋庆文;汤晓燕;袁昊;张艺蒙;范鑫;何晓宁 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/47;H01L29/872 |
代理公司: | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 张捷 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 沟槽结构 结势垒肖特基二极管 外延层 相邻沟槽 减小 反向漏电流 隔离介质层 上表面中心 阳极电极层 阴极电极层 导通电阻 衬底层 上表面 正向 保证 | ||
1.一种沟槽结构结势垒肖特基二极管,其特征在于,自上而下依次包括阳极电极层(1)、隔离介质层(2)、N-外延层(3)、N+衬底层(4)和阴极电极层(5),其中,
在所述N-外延层(3)的上表面开设有多个沟槽结构(6),在所述沟槽结构的内部形成有P型离子注入区(7);
相邻所述沟槽结构(6)的间距从所述N-外延层(3)的上表面中心至边缘呈减小趋势,且多个所述P型离子注入区(7)的形状尺寸均相同。
2.根据权利要求1所述的沟槽结构结势垒肖特基二极管,其特征在于,多个所述沟槽结构(6)均为同心的环形结构。
3.根据权利要求1所述的沟槽结构结势垒肖特基二极管,其特征在于,多个所述沟槽结构(6)均为矩形,并且在所述N-外延层(3)的上表面分布成阵列结构。
4.根据权利要求1所述的沟槽结构结势垒肖特基二极管,其特征在于,相邻所述沟槽结构(6)的间距从所述N-外延层(3)的上表面中心至边缘以连续方式减小。
5.根据权利要求1所述的沟槽结构结势垒肖特基二极管,其特征在于,相邻所述沟槽结构(6)的间距从所述N-外延层(3)的上表面中心至边缘以阶梯方式减小。
6.根据权利要求1所述的沟槽结构结势垒肖特基二极管,其特征在于,
所述N-外延层(3)与所述阳极电极层(1)之间形成第一肖特基接触区(8),每个所述P型离子注入区(7)与所述阳极电极层(1)之间形成第二肖特基接触区(9)。
7.根据权利要求1所述的沟槽结构结势垒肖特基二极管,其特征在于,在所述沟槽结构(6)的底部和内壁上均形成有所述P型离子注入区(7)。
8.根据权利要求1所述的沟槽结构结势垒肖特基二极管,其特征在于,
所述多个沟槽结构(6)的槽深均相同。
9.根据权利要求1-8中任一项所述的沟槽结构结势垒肖特基二极管,其特征在于,相邻所述沟槽结构(6)的间距大于等于3μm。
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