[发明专利]位置偏移的修正方法、装置、存储介质和电子设备有效

专利信息
申请号: 201910459425.1 申请日: 2019-05-29
公开(公告)号: CN110174391B 公开(公告)日: 2022-03-29
发明(设计)人: 骆磊 申请(专利权)人: 深圳前海达闼云端智能科技有限公司
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65;G06F17/16
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 代理人: 魏云鹿
地址: 518000 广东省深圳市前海深港合作区前*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 位置 偏移 修正 方法 装置 存储 介质 电子设备
【说明书】:

本公开涉及一种位置偏移的修正方法、装置、存储介质和电子设备,应用于物质检测设备,该方法包括:若物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变,获取待测物质的位移信息,根据检测位置对应的第一坐标组和位移信息,确定检测位置对应的第二坐标组,检测位置为在待测物质上预设的检测轨迹,或预设数量个检测点,根据第二坐标组,更新物质检测设备中与检测位置对应的转动参数组,根据更新后的转动参数组对待测物质进行检测。本公开能够在物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变时,及时地更新检测位置对应的转动参数组,使物质检测设备能够准确地对检测位置进行检测,提高了物质检测的准确性和适应性。

技术领域

本公开涉及物质检测领域,具体地,涉及一种位置偏移的修正方法、装置、存储介质和电子设备。

背景技术

拉曼检测设备利用拉曼散射来检测物质的成分,在多个领域中都有广泛的应用,例如石油勘探,药物检测,安全检查等领域。拉曼检测需要通过激光聚焦来使物质散射出拉曼光谱,由于激光的照射点的单点能量密度很高,在对易燃易爆物品检测时,可能会点燃易燃易爆物品,危险性高。现有技术中,主要是通过采用MEMS(英文:Micro-Electro-Mechanical System,中文:微机电系统)技术,使激光的照射点可以按照预设的多个点或者按照预设的轨迹持续运动,防止单点能量累计而点燃易燃易爆物品,从而确保对易燃易爆物品检测的安全性。但是在对待测物质上指定的检测位置进行检测的过程中,如果待测物质出现位移或震动,会导致实际的检测点偏离指定的检测位置,导致检测结果不准确,甚至无法输出检测结果,需要重新检测。

发明内容

本公开的目的是提供一种位置偏移的修正方法、装置、存储介质和电子设备,用以解决现有技术中当待测物质出现位移或震动时,拉曼检测不准确的问题。

为了实现上述目的,根据本公开实施例的第一方面,提供一种位置偏移的修正方法,应用于物质检测设备,所述方法包括:

若所述物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变,获取所述待测物质的位移信息;

根据检测位置对应的第一坐标组和所述位移信息,确定所述检测位置对应的第二坐标组,所述检测位置为在所述待测物质上预设的检测轨迹,或预设数量个检测点;

根据所述第二坐标组,更新所述物质检测设备中与所述检测位置对应的转动参数组;

根据更新后的所述转动参数组对所述待测物质进行检测。

可选地,所述位移信息包括:横向变化量,纵向变化量和角度变化量,所述根据检测位置对应的第一坐标组和所述位移信息,确定所述检测位置对应的第二坐标组包括:

根据第一坐标、所述横向变化量、所述纵向变化量和所述角度变化量,按照预设的第一转换关系确定第二坐标,所述第一坐标为所述第一坐标组中的任一坐标,所述第二坐标为所述第二坐标组中与第一坐标对应的坐标;

重复执行所述根据第一坐标、所述横向变化量、所述纵向变化量和所述角度变化量,按照预设的第一转换关系确定第二坐标的步骤,直至所述第二坐标组中的每一坐标被确定。

可选地,所述根据所述第二坐标组,更新所述物质检测设备中与所述检测位置对应的转动参数组包括:

根据目标坐标和预设的第二转换关系更新目标转动参数,所述目标坐标为所述第二坐标组中的任一坐标,所述目标转动参数为所述转动参数组中与所述目标坐标对应的转动参数;

重复执行所述根据目标坐标和预设的第二转换关系更新目标转动参数的步骤,直至所述转动参数组中全部的转动参数或部分的转动参数被更新。

可选地,所述转动参数组中的转动参数按照预设的检测顺序排列,所述根据更新后的所述转动参数组对所述待测物质进行检测包括:

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