[发明专利]光器件测试装置

权利要求书

1.一种光器件测试装置，用于测试光器件的跟踪误差，其特征在于，所述光器件测试装置包括：

导热组件，形成至少一个限位槽，所述光器件至少部分容纳于所述限位槽内；

定位件，可活动地设于所述导热组件，所述定位件至少部分伸入所述限位槽内，并与所述光器件的外壁抵接，以使所述光器件定位于所述定位件与所述限位槽的内壁之间；以及

温控组件，设于所述导热组件，所述温控组件用于调节所述导热组件的温度，以改变所述光器件的工作温度。

2.如权利要求1所述的光器件测试装置，其特征在于，所述温控组件包括：

热电制冷器，设于所述导热组件，所述热电制冷器用于调节所述导热组件的温度；和

热敏电阻，设于所述导热组件，并与所述热电制冷器间隔设置，所述热敏电阻用于获取所述导热组件的当前温度。

3.如权利要求1所述的光器件测试装置，其特征在于，所述导热组件包括：

测试盒，形成有容纳腔；

导热基板，设于所述容纳腔内，并邻近所述容纳腔的开口处设置；以及

盖板，盖合于所述容纳腔的开口处，并有与所述导热基板围合形成所述限位槽；

所述定位件可活动地穿设于所述盖板，并抵接于所述光器件背向所述导热基板的一侧，以使所述光器件定位于所述定位件和所述导热基板之间；

所述温控组件设于所述导热基板背向所述盖板的一侧，并容纳于所述容纳腔内。

4.如权利要求3所述的光器件测试装置，其特征在于，所述导热组件还包括转动连接于所述盖板背向所述测试盒一侧的翻转板；

所述定位件包括定位柱、设于所述定位柱一端的止挡件以及套设于所述定位柱的弹性件；

所述定位柱可活动地穿设于所述翻转板，并与所述光器件背向所述导热基板的一侧抵接；

所述止挡件设于所述定位柱靠近所述光器件的一端；

所述弹性件位于所述止挡件和所述翻转板之间，所述弹性件的两端分别抵接于所述止挡件和所述翻转板，并处于压缩状态。

5.如权利要求1所述的光器件测试装置，其特征在于，所述导热组件包括：

安装罩，形成有安装腔，所述安装罩外壁形成有至少一个安装槽，所述安装槽的底壁开设有连通所述安装腔的安装口；和

导热座，设于所述安装腔内，所述导热座间隔设置有至少两个凸部，相邻两个所述凸部与所述导热座围合形成一通槽，所述凸部穿过所述安装口并伸入所述安装槽内，所述通槽的底壁与所述安装槽的底壁相齐平，以使所述通槽与所述安装槽连通，形成所述限位槽；

所述温控组件设于所述导热座背向所述凸部的一侧，并容纳于所述安装腔内。

6.如权利要求5所述的光器件测试装置，其特征在于，所述定位件为定位块，所述定位块包括支撑部和设于所述支撑部一端的定位部；

所述支撑部远离所述定位部的一端与所述凸部转动连接；

所述支撑部相对于所述凸部转动时，带动所述定位部伸入所述通槽内，并抵接于所述光器件的外壁，以将所述光器件夹持定位于所述定位部和所述通槽的侧壁或底壁之间。

7.如权利要求6所述的光器件测试装置，其特征在于，所述凸部开设有连通于所述通槽侧壁的竖槽，所述支撑部的一端转动连接于所述竖槽的底壁，所述支撑部和所述定位部至少部分容纳于所述竖槽内。

8.如权利要求1至7中任一项所述的光器件测试装置，其特征在于，所述光器件测试装置还包括连接于所述导热组件的进风接头，所述进风接头外接有进风器，所述进风器通过进风接头向所述导热组件鼓风。

9.如权利要求1至7中任一项所述的光器件测试装置，其特征在于，所述光器件测试装置还包括：

支架；和

散热箱，设于所述支架，所述散热箱形成有散热腔，所述散热箱的侧壁开设有与所述散热腔连通的散热口，所述散热箱于所述散热口处设有多个间隔设置的散热隔板，多个所述散热隔板之间形成有与所述散热腔连通的散热通道；

所述导热组件设于所述散热箱。

10.如权利要求9所述的光器件测试装置，其特征在于，所述光器件测试装置还包括风扇；

所述散热箱背向所述导热组件的一侧还开设有风口，所述风口与所述散热通道相连通；

所述风扇设于所述风口处，所述风扇用于向所述散热通道内鼓风，或者将所述散热通道内的空气向外排出。