[发明专利]一种TIADC系统失配误差校准方法、装置、设备及介质

权利要求书

1.一种TIADC系统失配误差校准方法，其特征在于，方法包括：

S1，计算一个标准正弦信号在TIADC系统的各子ADC通道中传输和被采样时产生的直流偏置失配误差、增益失配误差和时钟相位失配误差；

S2，基于所述直流偏置失配误差、增益失配误差和时钟相位失配误差，计算所述各子ADC通道的重构增益参数、重构直流参数和重构相位参数；

S3，当模拟信号输入所述TIADC系统时，采集所述各子ADC通道的信号数据，所述各子ADC通道的信号数据与相应的所述重构增益参数的乘积加上相应的所述重构直流参数，得到所述各子ADC通道的信号数据相应的修正数据；

令所述各子ADC通道的信号数据为a_m[k]，所述各子ADC通道的信号数据相应的修正数据为b_m[k]，所述重构增益参数为g′_m，所述重构直流参数为o′_m，其中m表示各子ADC通道编号，k表示采样数据序号，则：

b_m[k]＝a_m[k]×g′_m+o′_m；

S4，将所述各子ADC通道的信号数据相应的修正数据拼合，得到TIADC波形数据，将所述TIADC波形数据进行滤波处理，得到滤波波形数据；

将所述TIADC波形数据与一个预置的滤波器做卷积计算，得到所述滤波波形数据；

令所述TIADC波形数据为所述预置的滤波器为h[n]，所述各子ADC通道的信号数据相应的修正数据为b_m[k]，所述滤波波形数据为则：

其中，n表示将所述各子ADC通道的信号数据相应的修正数据拼合得到的TIADC波形数据的序号，M表示所述TIADC系统中组成TIADC的子ADC的数量，m表示所述各子ADC通道编号，m＝0，1，...，M-1，k表示采样数据序号，n＝Mk+m，i表示所述预置的滤波器的数据序号，L表示一个正整数；

所述TIADC波形数据加上所述滤波波形数据与相应的所述重构相位参数的乘积，得到最终修正的所述模拟信号的数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述直流偏置失配误差、增益失配误差，计算所述各子ADC通道的重构增益参数、重构直流参数和重构相位参数包括：

令各子ADC通道的直流偏置失配误差、增益失配误差和时钟相位失配误差分别为δo_m、δg_m和δt_m，所述重构增益参数、重构直流参数和重构相位参数分别为g′_m、o′_m和t′_m，其中，m表示所述各子ADC通道的编号，则：

t′_m＝-δt_m。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述TIADC波形数据与一个预置的滤波器做卷积计算包括：

所述预置的滤波器由一个基础滤波器和一个窗函数组成；

其中，所述基础滤波器进行了对称的截断；

令所述预置的滤波器为h[i]，所述基础滤波器为h_b[i]，所述窗函数为w[i]，则：

h[i]＝h_b[i]×w[i]，-L≤i≤L；

其中，p表示所述模拟信号在所述TIADC系统的TIADC第p个奈奎斯特区，L表示将所述基础滤波器对称的截断的长度。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述TIADC波形数据加上所述滤波波形数据与相应的所述重构相位参数的乘积，得到最终修正的所述模拟信号的数据包括：

令所述TIADC波形数据为所述滤波波形数据为所述重构相位参数为t′_m，所述最终修正的所述模拟信号的数据为y[n]，其中，n表示所述TIADC波形数据的序号，M表示所述TIADC系统中组成TIADC的子ADC的数量，m表示所述各子ADC通道编号，m＝0，1，...，M-1，n＝Mk+m，k表示采样数据序号，则：