[发明专利]一种位姿检测方法、系统及装置

权利要求书

1.一种位姿检测方法，其特征在于，包括：

接收异形电子元件的图像与PCB板的图像；

对所述异形电子元件的图像及所述PCB板的图像进行预处理得到目标对象；

对所述目标对象进行特征筛选得到特征集；

对所述特征集中的连通域进行边缘轮廓拟合，并根据边缘轮廓拟合后的连通域计算得到所述异形电子元件及所述PCB板的位姿。

2.根据权利要求1所述的位姿检测方法，其特征在于，所述对所述异形电子元件的图像及所述PCB板的图像进行预处理得到目标对象，包括：

对所述异形电子元件的图像及所述PCB板的图像进行滤波处理；

对滤波处理后的异形电子元件的图像及PCB板的图像进行阴影矫正处理；

对阴影矫正处理后的异形电子元件的图像及PCB板的图像进行阈值分割处理得到所述目标对象。

3.根据权利要求2所述的位姿检测方法，其特征在于，对所述PCB板的图像进行预处理得到的所述目标对象包括PCB孔。

4.根据权利要求3所述的位姿检测方法，其特征在于，所述对所述异形电子元件的图像及所述PCB板的图像进行滤波处理，包括：

通过高斯滤波的方式对所述异形电子元件的图像及所述PCB板的图像进行滤波处理。

5.根据权利要求4所述的位姿检测方法，其特征在于，所述对滤波处理后的异形电子元件的图像及PCB板的图像进行阴影矫正处理，包括：

通过图像相除的方式对滤波处理后的异形电子元件的图像及PCB板的图像进行阴影矫正处理。

6.根据权利要求5所述的位姿检测方法，其特征在于，所述对所述目标对象进行特征筛选得到特征集，包括：

基于连通域面积、连通域矩形度以及连通域圆形度对阈值分割处理后的异形电子元件的图像及PCB板的图像上的连通域进行特征筛选得到所述特征集。

7.根据权利要求6所述的位姿检测方法，其特征在于，所述对所述特征集中的连通域进行边缘轮廓拟合，包括：

通过亚像素级边缘轮廓拟合算法对所述特征集中的连通域进行边缘轮廓拟合。

8.一种位姿检测系统，其特征在于，包括：

图像接收模块，用于接收异形电子元件的图像与PCB板的图像；

图像预处理模块，用于对所述异形电子元件的图像及所述PCB板的图像进行预处理得到目标对象；

特征筛选模块，用于对所述目标对象进行特征筛选得到特征集；

边缘轮廓拟合模块，对所述特征集中的连通域进行边缘轮廓拟合，并根据边缘轮廓拟合后的连通域计算得到所述异形电子元件及所述PCB板的位姿。

9.一种位姿检测装置，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的位姿检测方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的位姿检测方法的步骤。