[发明专利]GIS中特高频-光信号一致性测试设备、装置及方法在审
| 申请号： | 201910465372.4 | 申请日： | 2019-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN110082658A | 公开（公告）日： | 2019-08-02 |
| 发明（设计）人： | 陈璐;司文荣;傅晨钊;高凯;吴天逸 | 申请（专利权）人： | 国网上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 蔡彭君 |
| 地址： | 200122 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 特高频 发射传感器 光电倍增管 接收传感器 光源 试验腔 光源控制器 脉冲发生器 信号一致性 测试设备 体内 容置槽 示波器 障碍物 特高频信号 试验腔体 影响规律 可测试 输出端 输入端 放电 | ||
1.一种GIS中特高频-光信号一致性测试设备，其特征在于，包括脉冲发生器(1)、光源控制器(2)、开关(3)、试验腔体(9)、特高频发射传感器(4)、光源(5)、特高频接收传感器(6)、光电倍增管(7)和示波器(8)，所述开关(3)的输入端分别连接脉冲发生器(1)和光源控制器(2)，输出端分别连接特高频发射传感器(4)和光源(5)，所述特高频接收传感器(6)和光电倍增管(7)均与示波器(8)连接，所述特高频发射传感器(4)和光源(5)置于试验腔体(9)内的一端，所述特高频接收传感器(6)和光电倍增管(7)置于试验腔体(9)内的另一端，所述试验腔体(9)内设有用于放置障碍物的容置槽(10)，该容置槽(10)位于光源(5)和光电倍增管(7)之间，并位于特高频发射传感器(4)和特高频接收传感器(6)之间。
2.根据权利要求1所述的一种GIS中特高频-光信号一致性测试设备，其特征在于，所述光源(5)为LED光源。
3.根据权利要求1所述的一种GIS中特高频-光信号一致性测试设备，其特征在于，所述容置槽(10)的所有横截面面积相等，其中，所述横截面与特高频信号和光信号的传播路径垂直。
4.根据权利要求1所述的一种GIS中特高频-光信号一致性测试设备，其特征在于，所述障碍物的种类至少包括导杆、隔离开关和盆式绝缘子。
5.根据权利要求1所述的一种GIS中特高频-光信号一致性测试设备，其特征在于，所述光源(5)位于特高频发射传感器(4)的中心位置。
6.一种GIS中特高频-光信号一致性测试装置，其特征在于，包括试验腔体(9)、特高频发射传感器(4)、光源(5)、特高频接收传感器(6)和光电倍增管(7)，所述特高频发射传感器(4)和光源(5)置于试验腔体(9)内的一端，所述特高频接收传感器(6)和光电倍增管(7)置于试验腔体(9)内的另一端，所述试验腔体(9)内设有用于放置障碍物的容置槽(10)，该容置槽(10)位于光源(5)和光电倍增管(7)之间，并位于特高频发射传感器(4)和特高频接收传感器(6)之间。
7.根据权利要求6所述的一种GIS中特高频-光信号一致性测试装置，其特征在于，所述光源(5)为LED光源。
8.根据权利要求6所述的一种GIS中特高频-光信号一致性测试装置，其特征在于，所述光源(5)位于特高频发射传感器(4)的中心位置。
9.一种如权利要求1-5任一所述GIS中特高频-光信号一致性测试设备的测试方法，其特征在于，包括：
步骤S1：在容置槽(10)内填充障碍物；
步骤S2：闭合开关(3)，所述脉冲发生器(1)激发特高频发射传感器(4)激发设定频率的特高频电磁波信号，所述光源控制器(2)控制光源(5)辐射出设定波长的光信号，所述特高频接收传感器(6)和光电倍增管(7)接收到的信号均由示波器(8)显示，并记录障碍物的类型和对应的波形；
步骤S3：更换障碍物的种类，并返回步骤S2，直至完成所有目标障碍物的检测。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述特高频电磁波信号的频率范围为300MHz-3GHz，所述光信号的波长范围为200-800纳米。
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