[发明专利]GIS中特高频-光信号一致性测试设备、装置及方法在审
申请号: | 201910465372.4 | 申请日: | 2019-05-30 |
公开(公告)号: | CN110082658A | 公开(公告)日: | 2019-08-02 |
发明(设计)人: | 陈璐;司文荣;傅晨钊;高凯;吴天逸 | 申请(专利权)人: | 国网上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 蔡彭君 |
地址: | 200122 上海市浦东新区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 特高频 发射传感器 光电倍增管 接收传感器 光源 试验腔 光源控制器 脉冲发生器 信号一致性 测试设备 体内 容置槽 示波器 障碍物 特高频信号 试验腔体 影响规律 可测试 输出端 输入端 放电 | ||
本发明涉及一种GIS中特高频‑光信号一致性测试设备、装置及方法,其中设备包括脉冲发生器、光源控制器、开关、试验腔体、特高频发射传感器、光源、特高频接收传感器、光电倍增管和示波器,开关的输入端分别连接脉冲发生器和光源控制器,输出端分别连接特高频发射传感器和光源,特高频接收传感器和光电倍增管均与示波器连接,特高频发射传感器和光源置于试验腔体内的一端,特高频接收传感器和光电倍增管置于试验腔体内的另一端,试验腔体内设有用于放置障碍物的容置槽,该容置槽位于光源和光电倍增管之间,并位于特高频发射传感器和特高频接收传感器之间。与现有技术相比,本发明可测试各类障碍物对放电所产生的光、特高频信号一致性的影响规律。
技术领域
本发明涉及电气设备测量领域,尤其是涉及一种GIS中特高频-光信号一致性测试设备、装置及方法。
背景技术
大型电力变压器及气体绝缘全封闭式组合电器(Gas-insulated metal-enclosedswitchgear,GIS)是目前电力系统中最重要的设备,其运行可靠性直接关系到电网系统的安全稳定。在GIS内部,金属尖端、悬浮电位等缺陷时有发生,一旦产生缺陷将会导致局部放电的产生。利用特高频法进行GIS内部缺陷局部放电的检测已经得到了较为广泛的应用,尽管特高频法本身具有较强的抗干扰能力,但现场检测和实验室研究中仍然存在来自外部空间的各类干扰,有时难以分辨干扰信号的局放信号。利用GIS内部缺陷所产生的光信号进行局放的检测目前逐步有所开展,特别是利用光电传感器同时进行特高频和光信号的测量对于提高抗干扰能力,准确识别缺陷具有重要的作用。但由于光信号和特高频信号传播特性具有很大差异,特别是光信号,具有波动和粒子两种传播特性,因此如何获得此两类信号的一致性是目前的一个难题。针对此,本发明提供了一种GIS中特高频-光信号一致性测试设备,可获得GIS内各种部件对两类信号传播特性的影响规律,进而得到其一致性规律。
发明内容
本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种GIS中特高频-光信号一致性测试设备、装置及方法。
本发明的目的可以通过以下技术方案来实现:
一种GIS中特高频-光信号一致性测试设备,包括脉冲发生器、光源控制器、开关、试验腔体、特高频发射传感器、光源、特高频接收传感器、光电倍增管和示波器,所述开关的输入端分别连接脉冲发生器和光源控制器,输出端分别连接特高频发射传感器和光源,所述特高频接收传感器和光电倍增管均与示波器连接,所述特高频发射传感器和光源置于试验腔体内的一端,所述特高频接收传感器和光电倍增管置于试验腔体内的另一端,所述试验腔体内设有用于放置障碍物的容置槽,该容置槽位于光源和光电倍增管之间,并位于特高频发射传感器和特高频接收传感器之间。
所述光源为LED光源。
所述容置槽的所有横截面面积相等,其中,所述横截面与特高频信号和光信号的传播路径垂直。
所述障碍物的种类至少包括导杆、隔离开关和盆式绝缘子。
所述光源位于特高频发射传感器的中心位置。
一种GIS中特高频-光信号一致性测试装置,包括试验腔体、特高频发射传感器、光源、特高频接收传感器和光电倍增管,所述特高频发射传感器和光源置于试验腔体内的一端,所述特高频接收传感器和光电倍增管置于试验腔体内的另一端,所述试验腔体内设有用于放置障碍物的容置槽,该容置槽位于光源和光电倍增管之间,并位于特高频发射传感器和特高频接收传感器之间。
一种如上述GIS中特高频-光信号一致性测试设备的测试方法,包括:
步骤S1:在容置槽内填充障碍物;
步骤S2:闭合开关,所述脉冲发生器激发特高频发射传感器激发设定频率的特高频电磁波信号,所述光源控制器控制光源辐射出设定波长的光信号,所述特高频接收传感器和光电倍增管接收到的信号均由示波器显示,并记录障碍物的类型和对应的波形;
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