[发明专利]电路校正系统与增加扫描测试涵盖率的方法

权利要求书

1.一种电路校正系统，其特征在于，包含：

一记忆体，用于储存至少一程序码；以及

一处理器，用以执行该至少一程序码，以执行下列操作：

分析一第一网表档与一第二网表档，以获取一电路结构变动，其中该第一网表档对应于一第一扫描链电路系统，且该第二网表档对应于一第二扫描链电路系统，该第二网表档为经由该第一网表档被执行一工程变更指令后所产生；

依据至少一预定条件修复该第二扫描链电路系统；

评估经修复后的该第二扫描链电路系统中的一候选节点，以连接经该工程变更指令后所产生的一新正反器电路至该候选节点；以及

储存处理后的该第二网表档为一第三网表档，以制造一集成电路。

2.根据权利要求1所述的电路校正系统，其特征在于，该处理器用以映射该第一扫描链电路系统与该第二扫描链电路系统，并分类该电路结构变动。

3.根据权利要求2所述的电路校正系统，其特征在于，该处理器用以根据一正反器类型以及一输入输出接脚类型依序分类该第一扫描链电路系统与该第二扫描链电路系统中未被映射到的一正反器电路，以判断该第二扫描链电路系统是否符合该至少一预定条件。

4.根据权利要求3所述的电路校正系统，其特征在于，该至少一预定条件包含该正反器电路与该第二扫描链电路系统的其他电路断开连接、该正反器电路与该第二扫描链电路系统的其他正反器电路之间的一连接顺序被改变或其上述任意组合。

5.根据权利要求3所述的电路校正系统，其特征在于，该处理器用以重新连接该正反器电路至该第二扫描链电路系统的其他电路或回复该正反器电路与该第二扫描链电路系统的其他正反器电路之间的一连接顺序，以修复该第二扫描链电路系统。

6.根据权利要求1所述的电路校正系统，其特征在于，该处理器用以根据该第二网表档辨识该新正反器电路，并依据一时脉域以及一触发边缘分类该第二扫描链电路系统中的多个原有的正反器电路与该新正反器电路，以寻找该至少一候选节点。

7.根据权利要求6所述的电路校正系统，其特征在于，该新正反器电路被分类至一第一分类，且该处理器更用以根据一电路阶层、一功能关联性或一扇出数中至少一者评估所述多个原有的正反器电路中属于该第一分类的至少一原有的正反器电路，以寻找该至少一候选节点。

8.根据权利要求7所述的电路校正系统，其特征在于，该处理器用以根据该电路阶层与该功能关联性评分该至少一原有的正反器电路，并挑选该至少一原有的正反器电路中具有最高评分与最低扇出数的一者的一输出端为该至少一候选节点。

9.一种增加扫描测试涵盖率的方法，由至少一处理器执行，其特征在于，该方法包含：

分析一第一网表档与一第二网表档，以获取一电路结构变动，其中该第一网表档对应于一第一扫描链电路系统，且该第二网表档对应于第二扫描链电路系统，该第二网表档为经由该第一网表档被执行一工程变更指令后所产生；

依据至少一预定条件修复该第二扫描链电路系统；

评估经修复后的该第二扫描链电路系统中的一候选节点，以连接经该工程变更指令后所产生的一新正反器电路至该候选节点；以及

储存处理后的该第二网表档为一第三网表档，以制造一集成电路。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，分析该第一网表档与该第二网表档，以获取该电路结构变动的操作包含：

映射该第一扫描链电路系统与该第二扫描链电路系统，并分类该电路结构变动。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，映射该第一扫描链电路系统与该第二扫描链电路系统，并分类该电路结构变动的操作包含：

根据一正反器类型以及一输入输出接脚类型依序分类该第一扫描链电路系统与该第二扫描链电路系统中未被映射到的一正反器电路，以判断该第二扫描链电路系统是否符合该至少一预定条件。