[发明专利]电路校正系统与增加扫描测试涵盖率的方法

说明书

一种电路校正系统与增加扫描测试涵盖率的方法。增加扫描测试涵盖率的方法由至少一处理器执行，并包含下列操作：分析第一网表档与第二网表档，以获取一电路结构变动，其中第一网表档对应于第一扫描链电路系统，且第二网表档对应于第二扫描链电路系统，第二网表档为经由第一网表档被执行工程变更指令后所产生；依据至少一预定条件修复第二扫描链电路系统；评估经修复后的第二扫描链电路系统中的一候选节点，以连接经工程变更指令后所产生的新正反器电路至候选节点；以及储存处理后的第二网表档为第三网表档，以制造集成电路。

技术领域

本案是有关于一种电路校正系统，且特别是有关于应用于工程变更指令的电路校正系统与增加扫描测试涵盖率。

背景技术

工程变更指令(engineering change orders,ECO)用于改变元件、功能、工作流程或工程规格。在集成电路设计的应用中，ECO常用来修正在设计期间发现的设计错误，或对设计规格做出更改以补偿其他系统要求。然而，经过ECO后的电路，可能会造成后续流程需多花费一些未预期的额外时间，例如造成扫描测试的涵盖率下降或造成需要重新布局与绕线的负担等等，导致集成电路的开发周期更长。

发明内容

为了解决上述问题，本案的一态样是提供一种增加扫描测试涵盖率的方法，其由至少一处理器执行，并包含下列操作：分析第一网表档与第二网表档，以获取一电路结构变动，其中第一网表档对应于第一扫描链电路系统，且第二网表档对应于第二扫描链电路系统，第二网表档为经由第一网表档被执行工程变更指令后所产生；依据至少一预定条件修复第二扫描链电路系统；评估经修复后的第二扫描链电路系统中的候选节点，以连接经工程变更指令后所产生的新正反器电路至候选节点；以及储存处理后的第二网表档为第三网表档，以制造集成电路。

本案的一态样是提供一种电路校正系统，其包含记忆体与处理器。记忆体用于储存至少一程序码。处理器用以执行至少一程序码，以执行下列操作：分析第一网表档与第二网表档，以获取一电路结构变动，其中第一网表档对应于第一扫描链电路系统，且第二网表档对应于第二扫描链电路系统，第二网表档为经由第一网表档被执行工程变更指令后所产生；依据至少一预定条件修复该第二扫描链电路系统；评估经修复后的第二扫描链电路系统中的一候选节点，以连接经工程变更指令后所产生的新正反器电路至候选节点；以及储存处理后的第二网表档为第三网表档，以制造集成电路。

于一些实施例中，分析该第一网表档与该第二网表档，以获取该电路结构变动的操作包含：映射第一扫描链电路系统与第二扫描链电路系统，并分类扫描链电路结构变动。

于一些实施例中，映射第一扫描链电路系统与第二扫描链电路系统，并分类该电路结构变动的的操作包含：根据正反器类型以及输入输出接脚类型依序分类第一扫描链电路系统与第二扫描链电路系统中未被映射到的正反器电路，以判断第二扫描链电路系统是否符合至少一预定条件。

于一些实施例中，至少一预定条件包含未被映射到的正反器电路与第二扫描链电路系统的其他电路断开连接、未被映射到的正反器电路与第二扫描链电路系统的其他正反器电路之间的连接顺序被改变或其上述任意组合。

于一些实施例中，依据至少一预定条件修复该第二扫描链电路系统的操作包含：重新连接未被映射到的正反器电路至该第二扫描链电路系统的其他电路或回复未被映射到的正反器电路与该第二扫描链电路系统的其他正反器电路之间的连接顺序，以修复该第二扫描链电路系统。

于一些实施例中，评估经修复后的该第二扫描链电路系统中的该候选节点，以连接经该工程变更指令后所产生的该新正反器至候选节点的操作包含：根据该第二网表档辨识新正反器电路；以及依据时脉域以及触发边缘分类第二扫描链电路系统中的多个原有的正反器电路与新正反器电路，以寻找该至少一候选节点。

于一些实施例中，新正反器电路被分类至一第一分类，且寻找该至少一候选节点的操作还包含：根据电路阶层、功能关联性或扇出数中至少一者评估所述多个原有的正反器电路中属于第一分类的至少一原有的正反器电路，以寻找至少一候选节点。