[发明专利]针对影响磁共振系统成像质量的外界电磁干扰的检测系统有效
申请号: | 201910475094.0 | 申请日: | 2019-06-03 |
公开(公告)号: | CN110208726B | 公开(公告)日: | 2021-07-09 |
发明(设计)人: | 李伟;孔祥林;卢广;王君杰;王艳飞;张丙春 | 申请(专利权)人: | 辽宁开普医疗系统有限公司 |
主分类号: | G01R33/58 | 分类号: | G01R33/58;G01R31/00 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 李巨智 |
地址: | 117004 辽宁省*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 针对 影响 磁共振 系统 成像 质量 外界 电磁 干扰 检测 | ||
1.一种针对影响磁共振系统成像质量的外界电磁干扰的检测系统,其特征在于,包括
干扰采样模块阵列,连接采样信息处理模块,用于对外界的多路电磁干扰进行初级滤波和采样,并将多路干扰数据传送给采样信息处理模块;
采样信息处理模块,连接干扰采样模块阵列和通信传输模块,用于接收干扰采样模块阵列发送的多路干扰数据和通信传输模块发送的控制参数,利用控制参数处理多路干扰数据,通过干扰强度处理和干扰相位处理,计算出磁共振系统扫描区域的干扰数据,并将干扰处理结果传递给通信传输模块;
所述干扰强度处理为:
首先根据特征频率分离单路干扰采样模块采样数据,然后对多路干扰数据中的同特征频率成分进行加权求和处理,得到扫描区域该特征频率的干扰数据,即:
其中:f(x)表示特征频率干扰信号强度数据,x表示特征频率的索引,k表示采样点位的索引,ak表示第k个采样点的综合参数,bk表示第k个采样点的第x个特征频率干扰数据;
所述干扰相位处理为:对扫描区域特征频率干扰数据进行相位补偿,即:
A(x)=f(x)+Y(x)
其中:A(x)表示特征干扰信号数据,x表示特征频率的索引,f(x)表示第x个特征频率干扰信号强度数据,Y(x)表示第x个特征频率干扰信号相位补偿数据;
通信传输模块,连接采样信息处理模块和上位机,用于接收上位机发送的控制参数后发送给采样信息处理模块;并且将采样信息处理模块发送的干扰处理结果发送给上位机。
2.根据权利要求1所述的针对影响磁共振系统成像质量的外界电磁干扰的检测系统,其特征在于:所述干扰采样模块阵列由若干个干扰采样模块组成,每个干扰采样模块包括干扰采样传感器、信号处理电路和AD采样电路;
所述干扰采样传感器通过屏蔽线缆连接至信号处理电路,向信号处理电路发送传感器信号;所述信号处理电路通过仪表放大器接收传感器信号,偏置调节电路直接连接仪表放大器偏置输入端,偏置调节后的信号经过滤波电路和放大电路处理后输出给AD采样电路;AD采样前端电路将接收到的待采样信号转换为符合ADC芯片要求的差分信号,供ADC采样后输出到数据总线。
3.根据权利要求2所述的针对影响磁共振系统成像质量的外界电磁干扰的检测系统,其特征在于:所述干扰采样传感器用于采集磁共振系统周围环境的电磁信号,电磁信号包括地磁信号、工频干扰信号和随机干扰信号;
所述信号处理电路用于对传感器信号进行采样前处理,采样前处理包括偏置调节、低延迟滤波和幅度调节;
所述AD采样电路用于对处理后信号进行AD采样,将模拟信号转换为数字信号。
4.根据权利要求1所述的针对影响磁共振系统成像质量的外界电磁干扰的检测系统,其特征在于:所述特征频率包括工频及其倍频、0-5Hz低频以及其他影响核磁共振系统扫描图像质量的频率成分。
5.根据权利要求1所述的针对影响磁共振系统成像质量的外界电磁干扰的检测系统,其特征在于:所述通信传输模块包括高速实时光纤通信接口和USB通用串行接口;其中高速实时光纤通信接口用于实时传输高速实时光纤通信接口数据;USB通用串行接口用于传输USB通用串行接口数据。
6.根据权利要求5所述的针对影响磁共振系统成像质量的外界电磁干扰的检测系统,其特征在于:所述高速实时光纤通信接口数据包括实时变化的控制参数和采样信息处理模块计算所得的各特征频率的干扰数据。
7.根据权利要求5所述的针对影响磁共振系统成像质量的外界电磁干扰的检测系统,其特征在于:所述USB通用串行接口数据包括干扰采样模块阵列状态数据、采样信息处理模块状态数据、各路干扰采样模块原始采样数据和采样信息处理模块处理后的结果数据。
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