[发明专利]针对影响磁共振系统成像质量的外界电磁干扰的检测系统

说明书

本发明涉及一种针对影响磁共振系统成像质量的外界电磁干扰的检测系统，包括干扰采样模块阵列，对外界的多路电磁干扰进行初级滤波和采样，并将多路干扰数据传送给采样信息处理模块；采样信息处理模块接收多路干扰数据和控制参数，计算出磁共振系统扫描区域的干扰数据，传递给通信传输模块；通信传输模块接收控制参数后发送给采样信息处理模块；将干扰处理结果发送给上位机。本发明能够通过对远离磁共振系统磁体本体强磁场区域的外界电磁干扰进行检测来得到扫描区域的干扰数据，并可以将干扰数据进行实时传输，以便于后续设备实时利用该数据消除外界干扰对磁共振系统成像质量的影响。

技术领域

本发明涉及磁共振系统领域，具体地说是一种针对影响磁共振系统成像质量的外界电磁干扰的检测系统。

背景技术

人们对健康的追求促进了医疗卫生事业的蓬勃发展。21世纪以来，核磁共振成像技术以其高分辨率、大信息量、无损害检查等优点得到广泛的应用。

磁共振成像系统要得到高质量图像需要依赖稳定的磁场。然而磁共振系统设备所在环境中存在很多因素会影响扫描区域磁场的稳定，如50Hz工频电流、大型用电设备、汽车、电梯等产生的电磁干扰。这些电磁干扰无法被现在使用的屏蔽设备屏蔽，其强度也远小于磁共振系统磁体本身的磁场，所以无法通过直接检测扫面区域的磁场来获得高精确度的干扰数据，也就不能消除这些干扰对磁共振系统成像质量的影响。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明提供一种针对影响磁共振系统成像质量的外界电磁干扰的检测系统，能够通过对远离磁共振系统磁体本体强磁场区域的外界电磁干扰进行检测来得到扫描区域的干扰数据，并可以将干扰数据进行实时传输，以便于后续设备实时利用该数据消除外界干扰对磁共振系统成像质量的影响。

本发明为实现上述目的所采用的技术方案是：

一种针对影响磁共振系统成像质量的外界电磁干扰的检测系统，包括

干扰采样模块阵列，连接采样信息处理模块，用于对外界的多路电磁干扰进行初级滤波和采样，并将多路干扰数据传送给采样信息处理模块；

采样信息处理模块，连接采样信息处理模块和通信传输模块，用于接收干扰采样模块阵列发送的多路干扰数据和通信传输模块发送的控制参数，利用控制参数处理多路干扰数据，通过干扰强度处理和干扰相位处理，计算出磁共振系统扫描区域的干扰数据，并将干扰处理结果传递给通信传输模块；

通信传输模块，连接采样信息处理模块和上位机，用于接收上位机发送的控制参数后发送给采样信息处理模块；并且将采样信息处理模块发送的干扰处理结果发送给上位机。

所述干扰采样模块阵列由若干个干扰采样模块组成，每个干扰采样模块包括干扰采样传感器、信号处理电路和AD采样电路；

所述干扰采样传感器通过屏蔽线缆(线缆长度小于20m)连接至信号处理电路，向信号处理电路发送传感器信号；所述信号处理电路通过仪表放大器接收传感器信号，偏置调节电路直接连接仪表放大器偏置输入端，偏置调节后的信号经过滤波电路和放大电路处理后输出给AD采样电路；AD采样前端电路将接收到的待采样信号转换为符合ADC芯片要求的差分信号，供ADC采样后输出到数据总线。

所述干扰采样传感器用于采集磁共振系统周围环境的电磁信号，电磁信号包括地磁信号、工频干扰信号和随机干扰信号；

所述信号处理电路用于对传感器信号进行采样前处理，采样前处理包括偏置调节、低延迟滤波和幅度调节；

所述AD采样电路用于对处理后信号进行AD采样，将模拟信号转换为数字信号。

所述干扰强度处理为：

首先根据特征频率分离单路干扰采样模块采样数据，然后对多路干扰数据中的同特征频率成分进行加权求和处理，得到扫描区域该特征频率的干扰数据，即：