[发明专利]光学检测装置及其相关转盘式手表在审
申请号: | 201910490140.4 | 申请日: | 2019-06-05 |
公开(公告)号: | CN110597044A | 公开(公告)日: | 2019-12-20 |
发明(设计)人: | 杨中鼎;蔡凯合;张彦闵 | 申请(专利权)人: | 原相科技股份有限公司 |
主分类号: | G04D7/00 | 分类号: | G04D7/00 |
代理公司: | 44287 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 | 代理人: | 胡海国 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;TW |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 转盘式 光学检测装置 光学接收器 手表 光学反射信号 处理器 光学检测信号 电连接 物理量 指针 光学发射器 机械构造 预设条件 指针位置 投射 外型 优选 发射 停留 检测 | ||
1.一种用来检测转盘式手表的指针位置的光学检测装置,其特征在于,该光学检测装置包括:
光学接收器,设置在该转盘式手表内,并且用来接收光学反射信号;以及
处理器,电连接该光学接收器,用来将该光学反射信号的物理量与预设条件相比较,以判断该转盘式手表的指针是否停留在该光学接收器的上方。
2.如权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,该光学检测装置进一步包括光学发射器,电连接该处理器并且发射光学检测信号,该光学检测信号投射到该指针以产生该光学反射信号。
3.如权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,该处理器电连接该转盘式手表的马达以及时间接收器,该处理器用来驱动该马达根据该物理量的比较结果与该时间接收器所接收的时间信号调校该指针。
4.如权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,该光学检测装置进一步包括内存模块,电连接该处理器并且用来储存预设门槛,该处理器比较该物理量与该预设门槛以判断该物理量是否符合该预设条件。
5.如权利要求4所述的光学检测装置,其特征在于,该预设条件因该指针涂布高反射率材料而表示为该物理量大于该预设门槛。
6.如权利要求4所述的光学检测装置,其特征在于,该预设条件因该指针涂布低反射率材料而表示为该物理量小于或等于该预设门槛。
7.如权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,该物理量是该光学反射信号的亮度,并且该亮度由该光学接收器的全部像素或部分像素检测的亮度值经计算得出。
8.如权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,当取得多个符合该预设条件的比较结果时,该处理器设定该多个比较结果的第一个比较结果为参考值进行该指针的校正。
9.如权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,该转盘式手表包括第一指针以及第二指针,该处理器比较该物理量与第一预设条件及第二预设条件,以判断该光学反射信号属于该第一指针或该第二指针。
10.如权利要求9所述的光学检测装置,其特征在于,该第一预设条件与该第二预设条件是亮度范围或特定亮度的持续时间。
11.如权利要求9所述的光学检测装置,其特征在于,该处理器电连接该转盘式手表的马达,并利用该马达将该第一指针与该第二指针分别或同时移离该光学接收器的上方以进行初始化校正。
12.如权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,该光学接收器通过该转盘式手表的支撑件的破孔显露于外,或是该光学接收器设置在该支撑件的该破孔里的光穿透单元的下方。
13.一种用来检测转盘式手表的指针位置的光学检测装置,其特征在于,该光学检测装置包括:
光学发射器,用来输出光学检测信号;
光学接收器,设置在该转盘式手表内并且用来接收光学反射信号,该光学检测信号投射到该转盘式手表的指针以产生该光学反射信号;以及
处理器,电连接该光学发射器与该光学接收器,用来分析在不同时间点分别接收所得的多个光学反射信号的物理量变化,以辨识该多个光学反射信号会被舍弃、或是能用来判断该指针是否位于该光学接收器的上方。
14.如权利要求13所述的光学检测装置,其特征在于,该处理器关闭该光学发射器以取得第一光学反射信号,然后开启该光学发射器取得第二光学反射信号,接着分析该第一光学反射信号与该第二光学反射信号的物理量差异,以判断该指针的辨识结果是否受到环境亮度的影响。
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