[发明专利]光学检测装置及其相关转盘式手表

说明书

本发明公开一种用来检测转盘式手表的指针位置的光学检测装置。该光学检测装置包括光学接收器以及处理器。该光学接收器设置在该转盘式手表内，并且用来接收光学反射信号。该处理器电连接该光学接收器，用来将该光学反射信号的物理量与预设条件相比较，以判断该转盘式手表的指针是否停留在该光学接收器的上方。该光学检测装置进一步包括光学发射器，电连接该处理器并且发射光学检测信号，该光学检测信号投射到该指针以产生该光学反射信号。本发明的光学检测装置不需调整转盘式手表的内部机械构造，故可适用在各种类型的转盘式手表，并提供优选的外型设计。

技术领域

本发明涉及一种光学检测装置及其相关转盘式手表，特别是有关一种用来检测转盘式手表的指针位置的光学检测装置及其相关转盘式手表。

背景技术

转盘式手表可利用马达驱动多个指针，例如时针、分针与秒针，以指示时间。转盘式手表经长时间使用后可能因机械疲乏等因素造成失准，须重新进行校准正确时间。传统的调校方法是由使用者目测时钟的指示结果，手动调整指针以校正其指示位置。因此，如何设计一种能够根据标准时间自动更正转盘式手表的指针位置的光学检测装置，即为相关钟表产业的重点发展目标之一。

发明内容

本发明涉及一种用来检测转盘式手表的指针位置的光学检测装置及其相关转盘式手表。

本发明进一步公开一种用来检测转盘式手表的指针位置的光学检测装置。该光学检测装置包括光学接收器以及处理器。该光学接收器设置在该转盘式手表内，并且用来接收光学反射信号。该处理器电连接该光学接收器，用来将该光学反射信号的物理量与预设条件相比较，以判断该转盘式手表的指针是否停留在该光学接收器的上方。该光学检测装置进一步包括光学发射器，电连接该处理器并且发射光学检测信号，该光学检测信号投射到该指针以产生该光学反射信号。

本发明还公开该处理器电连接该转盘式手表的马达以及时间接收器，该处理器用来驱动该马达根据该物理量的比较结果与该时间接收器所接收的时间信号调校该指针。该光学检测装置进一步包括内存模块，电连接该处理器并且用来储存预设门槛，该处理器比较该物理量与该预设门槛以判断该物理量是否符合该预设条件。该预设条件因该指针涂布高反射率材料而表示为该物理量大于该预设门槛。该预设条件因该指针涂布低反射率材料而表示为该物理量小于或等于该预设门槛。

本发明还公开该物理量是该光学反射信号的亮度，并且该亮度由该光学接收器的全部像素或部分像素检测的亮度值经计算得出。当取得多个符合该预设条件的比较结果时，该处理器设定该多个比较结果的第一个比较结果为参考值进行该指针的校正。

本发明还公开该转盘式手表包括第一指针以及第二指针，该处理器比较该物理量与第一预设条件及第二预设条件，以判断该光学反射信号属于该第一指针或该第二指针。该第一预设条件与该第二预设条件是亮度范围或特定亮度的持续时间。该处理器电连接该转盘式手表的马达，并利用该马达将该第一指针与该第二指针分别或同时移离该光学接收器的上方以进行初始化校正。该光学接收器通过该转盘式手表的支撑件的破孔显露于外，或是该光学接收器设置在该支撑件的该破孔里的光穿透单元的下方。

本发明还公开一种用来检测转盘式手表的指针位置的光学检测装置，包括光学发射器，光学接收器以及处理器。该光学发射器用来输出光学检测信号。该光学接收器设置在该转盘式手表内、并且用来接收光学反射信号。该光学检测信号投射到该转盘式手表的指针以产生该光学反射信号。该处理器电连接该光学发射器与该光学接收器，用来分析在不同时间点分别接收所得的多个光学反射信号的物理量变化，以辨识该多个光学反射信号会被舍弃、或是能用来判断该指针是否位于该光学接收器的上方。

本发明还公开该处理器关闭该光学发射器以取得第一光学反射信号，然后开启该光学发射器取得第二光学反射信号，接着分析该第一光学反射信号与该第二光学反射信号的物理量差异，以判断该指针的辨识结果是否受到环境亮度的影响。当该物理量差异小于或等于预设值时，该辨识结果受到该环境亮度的影响，当该物理量差异大于预设值时，该辨识结果没有受到该环境亮度的影响。