[发明专利]一种高纯四氟化硅的合成及纯化方法有效
申请号: | 201910536842.1 | 申请日: | 2019-06-20 |
公开(公告)号: | CN110606490B | 公开(公告)日: | 2022-09-09 |
发明(设计)人: | 马建修;王新鹏;杜文东;张杰;崔录芳 | 申请(专利权)人: | 绿菱电子材料(天津)有限公司;天津绿菱气体有限公司 |
主分类号: | C01B33/107 | 分类号: | C01B33/107 |
代理公司: | 太原晋科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14110 | 代理人: | 任林芳 |
地址: | 301714 天*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高纯 氟化 合成 纯化 方法 | ||
本发明提出一种高纯四氟化硅的合成及纯化方法。一种高纯四氟化硅的合成及纯化方法,包括以下步骤:氟硅酸盐的预处理;氟硅酸盐经裂解反应制备四氟化硅粗料;在第一吸附工段脱除痕量水分及酸性气体;在第二吸附工段对氟硅醚进行脱除与阻聚控制;在精馏工段对轻组分和重组分进行分离;通过复杂精馏工段对恒沸物杂质进行分离。本发明提出的高纯四氟化硅的合成及纯化方法,其将加热裂解、吸附单元操作、精馏和复杂精馏科学组合,通过采用吸附单元脱除氟硅醚,通过常规精馏单元操作后增加复杂精馏工艺去除恒沸物。
技术领域
本发明涉及化工、分离工程及电子特种气体领域,且特别涉及一种高纯四氟化硅的合成及纯化方法。
背景技术
四氟化硅(SiF4)在四卤代硅烷族化合物中具有最高的硅原子比例(约27%),稳定的Si-F化学键能(541.0 kJ/mol),以及不易燃、不易爆的特点。在新一代芯片制程的高深宽、大容量硅/氧化硅和金属层间绝缘层加工工艺中,四氟化硅显示出了独特的物理化学性质。四氟化硅与N2O、O2、SiH4和H2等气体配合使用可以达到300-500 nm/min的化学沉积速率,在有限时间内获得宽厚的SiO2绝缘层。此外,四氟化硅也可以作为碳化硅、氮化硅等多种外延沉淀扩散硅源,光导纤维制作高纯石英玻璃的主体原料,光纤行业中硅基半导体离子注入制程的关键成分。
1771年Scheele等人首次成功合成出四氟化硅,具体是通过氢氟酸与二氧化硅的反应得到的,反应方程式为:SiO2 + 4 HF = SiF4 + 2 H2O。然而,二氧化硅化学性质稳定、Si-O键能大,需要大量氟化氢,反应温度往往较高,该方法由于氟化氢成本较高,逐渐被淘汰。
目前广泛应用的四氟化硅制备方法为二氧化硅萤石硫酸法,反应方程式为:2CaF2+ 2H2SO4 + SiO2 = 2CaSO4 + SiF4 + 2H2O。这种方法的特点是原料来源易得、成本低、适合大规模生产,但是主要面临的问题是生成物有水产生,水会与四氟化硅反应生成氟硅醚杂质,反应方程式为:2SiF4 + H2O = (SiF3)2O + 2HF。这种氟硅醚杂质类似凝胶性质,很容易絮凝与四氟化硅继续二次生长形成聚氟硅醚-(SiF2O)n-,容易使管件堵塞,威胁了生产的安全和稳定。另一方面,原料萤石杂质较多,反应裂解控制难度大,产生的四氟化硅粗料中成分非常复杂。
另一种四氟化硅的制备方法为裂解技术:将Na2SiF6在高温热裂解,产生四氟化硅和氟化钠。反应方程式为:Na2SiF6 = SiF4 + 2 NaF。这种合成方法的特点是避免了浓硫酸的使用,不产生硫酸钙浆状废渣,更进一步提高了安全和环保性。但是,该种方法也存在一些问题,比如裂解反应产物众多,不同氟取代的硅化物形成恒沸物组成复杂,裂解转化率偏低,裂解过程容易产生氟硅醚、聚氟硅烷等杂质。
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