[发明专利]一种液晶模组缺陷深度测量与分层装置和方法

权利要求书

1.一种液晶模组缺陷深度测量与分层装置，包括检测设备，其特征在于：所述检测设备包含设备机架和设置在设备机架上的液晶模组卡位、视角A相机和视角B相机，视角A相机和视角B相机的拍摄方向分别朝向液晶模组卡位。

2.根据权利要求1所述的液晶模组缺陷深度测量与分层装置和方法，其特征在于：所述视角A相机和/或视角B相机的相机视角垂直朝向液晶模组卡位上卡设的液晶模组显示表面时，视角A相机和/或视角B相机选用面阵相机或线阵相机；所述视角A相机和/或视角B相机的相机视角以一定俯角斜对液晶模组卡位上卡设的液晶模组显示表面时，视角A相机和/或视角B相机选用面阵相机。

3.一种液晶模组缺陷深度测量与分层方法，其特征在于：包括以下步骤：

步骤1，将待检测液晶模组放置于检测设备的液晶模组卡位上，利用视角A相机和视角B相机对液晶模组拍摄视角A图像I_A和视角B图像I_B；

步骤2，分别在视角A图像和视角B图像中定位目标缺陷在图像中位置，得到目标缺陷的视角A图像像素坐标P_A：(x_A，y_A）和视角B图像像素坐标P_B：(x_B，y_B)；

步骤3，以液晶盒像素阵列作为坐标锚点建立物理像素坐标系，将目标缺陷的视角A图像像素坐标P_A：(x_A，y_A)转换为视角A物理像素坐标Q_A：(x′_A，y′_A)，将目标缺陷的视角B图像像素坐标P_B：(x_B，y_B)转换为视角B物理像素坐标Q_B：(x′_B，y′_B)；

步骤4，根据目标缺陷视角A物理像素坐标Q_A：(x′_A，y′_A)和视角B物理像素坐标Q_B：(x′_B，y′_B)计算视差δ；

步骤5，根据预先标定得到的视差至深度映射参数k，通过目标缺陷视差值δ计算得到目标缺陷相对于液晶层彩色滤光片的深度d。

步骤6，根据目标缺陷深度值d确定该缺陷位于液晶模组哪一层l_c。

4.根据权利要求3所述的液晶模组缺陷深度测量与分层方法，其特征在于：所述在视角A图像和视角B图像中定位目标缺陷在图像中位置得到目标缺陷的视角A图像像素坐标P_A：(x_A，y_A)和视角B图像像素坐标P_B：(x_B，y_B)的方法为以液晶盒像素阵列作为坐标锚点建立物理像素坐标系，根据缺陷位置找到临近的像素作为锚点像素，确定锚点像素图像像素坐标P_a：(x_a，y_a)、锚点像素图像像素宽度w、锚点像素图像像素高度h、锚点像素物理像素坐标Q_d：(x′_d，y′_d)。

5.根据权利要求3所述的液晶模组缺陷深度测量与分层方法，其特征在于：所述根据目标缺陷视角A物理像素坐标Q_A：(x′_A，y′_A)和视角B物理像素坐标Q_B：(x′_B，y′_B)计算视差δ的算法为

6.根据权利要求3所述的液晶模组缺陷深度测量与分层方法，其特征在于：所述以液晶盒像素阵列作为坐标锚点建立物理像素坐标系，结合锚点定位和局部相对定位确定缺陷位置的物理像素坐标。