[发明专利]一种液晶模组缺陷深度测量与分层装置和方法

说明书

本发明公开了一种液晶模组缺陷深度测量与分层装置和方法，包含如下步骤：采用包括两个不同视角相机及运输机构的视觉装置，对液晶模组进行拍摄得到视角A图像和视角B图像；分别在视角A图像和视角B图像中定位目标缺陷在图像中位置，得到目标缺陷的视角A、视角B图像像素坐标；将目标缺陷的视角A、视角B图像像素坐标分别转换为视角A、视角B物理像素坐标；根据目标缺陷视角A、视角B物理像素坐标计算视差；根据预先标定得到的视差‑深度映射参数和目标缺陷视差值计算得到目标缺陷相对于液晶层的深度；根据目标缺陷深度值确定该缺陷位于液晶模组哪一层。本发明可实现液晶面板AOI检测的缺陷深度测量和分层，精度和稳定性高。

技术领域

本发明涉及AOI(Automatic Optical Inspection)自动光学检测技术领域，具体涉及一种液晶模组缺陷深度测量与分层装置和方法。

背景技术

LCD(Liquid Crystal Display)液晶屏以其价格低廉、显示质量高、纤薄轻巧、零辐射及低能耗等特点，被广泛用于人们日常生产生活，是人机交互的重要界面之一。液晶显示面板的制造包含了许多复杂的生产工艺及测试流程，液晶面板生产和检测技术正朝着自动化智能化的方向快速发展。

液晶面板生产的主要制程分为3段：前段Array制程、中段Cell制程和后段ModuleAssembly制程。其中，后段制程的一般工艺流程主要包括：面板切割、贴偏光片、全贴合、组装背光。在后段工艺流程中，TP盖板、上/下偏光片、液晶盒、背光等原材料会引入各种缺陷，同时制作过程中也会造成位于不同层的缺陷。为此，后段制程的质量检测设置了面板切割后、贴偏光片后和组装背光后的点灯检查和外观检查。

目前现有AOI技术可以实现对液晶面板生产中多个工艺段的自动质量检测。然而，现有AOI技术无法实现对缺陷所处液晶屏中的深度的精确测量，无法对不同层的缺陷进行区分，进而导致无法准确估计LCD屏幕缺陷在各个工艺流程的产生分布情况。对于提高LCD屏幕生产的质量管理水平，AOI检测过程中对LCD屏幕缺陷的深度进行精确测量和分层具有重要意义。

如图1所示，液晶显示模组的组成结构按照从上至下依次为：盖板1、上偏光片2、液晶盒3、下偏光片4和背光5。液晶显示模组相邻两层之间以及各层内部都可能出现缺陷，在盖板1表面也会附着一些灰尘，这些在AOI检测过程中都会被成像系统捕捉到。为了区分缺陷和表面灰尘，现有AOI技术采用关闭屏幕加打光的方式突显灰尘并拍摄打光画面，利用打光画面对检测结果进行过滤。但是部分出现在盖板层的缺陷和表面灰尘在成像系统拍摄的打光画面和其它画面没有区分性特征，这会导致这类盖板层缺陷被漏检。此外，现有AOI技术也无法实现对缺陷所处深度的精确测量和分层。

发明内容

本发明的目的是改进现有AOI技术的不足之处，提供一种液晶模组缺陷深度测量与分层装置和方法，以解决当前AOI检测设备无法区分液晶模组各层缺陷的问题以及近表面缺陷的漏检问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种液晶模组缺陷深度测量与分层装置，包括检测设备，其特征在于：所述检测设备包含设备机架和设置在设备机架上的液晶模组卡位、视角A相机和视角B相机，视角A相机和视角B相机的拍摄方向分别朝向液晶模组卡位。

优选地，所述视角A相机和/或视角B相机的相机视角垂直朝向液晶模组卡位上卡设的液晶模组显示表面时，视角A相机和/或视角B相机选用面阵相机或线阵相机；所述视角A相机和/或视角B相机的相机视角以一定俯角斜对液晶模组卡位上卡设的液晶模组显示表面时，视角A相机和/或视角B相机选用面阵相机。

一种液晶模组缺陷深度测量与分层方法，包括以下步骤：

步骤1，将待检测液晶模组放置于检测设备的液晶模组卡位上，利用视角A相机和视角B相机对液晶模组拍摄视角A图像I_A和视角B图像I_B；