[发明专利]一种偏光片的异物鉴定方法

权利要求书

1.一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，包括以下步骤：

削片的步骤：确定偏光片内异物所处的位置，对偏光片进行削片，通过控制削片的深度，使得异物裸露出来；

提取异物的步骤：用样品针将所述削片的步骤中裸露的异物提取出来，得到异物样品；

鉴定异物的步骤：用红外光谱仪对所述异物样品进行检测，得到红外光谱图；将所述红外光谱图与数据库中的红外光谱图进行比对，从而确定异物的成分。

2.根据权利要求1所述的一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，所述鉴定异物的步骤中，所述红外光谱仪的检测模式为透射；所述红外光谱仪的检测器为冷却后，分辨率为4-16cm^-1；所述红外光谱仪的采集条件为1-25s扫描8-128次。

3.根据权利要求1所述的一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，所述鉴定异物的步骤中，所述红外光谱仪的检测模式为透射；所述红外光谱仪的检测器为冷却后，分辨率为4cm^-1或8cm^-1；所述红外光谱仪的采集条件为12s扫描64次或3s扫描16次。

4.根据权利要求1所述的一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，所述削片的步骤中，使用高倍数的金相显微镜确认异物的位置；使用旋转削片机进行削片。

5.根据权利要求1所述的一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，所述削片的步骤中，削片深度为异物距离所述偏光片的上表面的深度。

6.根据权利要求1所述的一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，所述削片的步骤中，所述偏光片的保护层厚度为20-80μm，削片深度为10-120μm。

7.根据权利要求1所述的一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，所述削片的步骤之前还包括固定的步骤，所述固定的步骤为将所述偏光片水平地粘贴在玻璃上，然后转移至削片平台上。

8.根据权利要求1所述的一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，所述鉴定异物的步骤中，数据库中的红外光谱图为偏光片生产过程中使用的辅材以及接触的环境异物的红外光谱图。

9.根据权利要求8所述的一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，所述辅材包括PS隔板、打印纸、泡棉、乳胶手套和打印纸；所述环境异物包括粉尘、人体皮屑和毛发。