[发明专利]一种偏光片的异物鉴定方法

说明书

本发明公开了一种偏光片的异物鉴定方法，包括以下步骤：削片的步骤：确定偏光片内异物所处的位置，对偏光片进行削片，通过控制削片的深度，使得异物裸露出来；提取异物的步骤：用样品针将所述削片的步骤中裸露的异物提取出来，得到异物样品；鉴定异物的步骤：用红外光谱仪对所述异物样品进行检测，得到红外光谱图；将所述红外光谱图与数据库中的红外光谱图进行比对，从而确定异物的成分。本发明能够鉴定偏光片内的异物的成分，从而判断偏光片内的异物的来源。

技术领域

本发明涉及偏光片，尤其涉及一种偏光片的异物鉴定方法。

背景技术

偏光片是产生偏振光的光学功能薄膜，液晶面板的成像必须依靠偏振光，因而偏光片是液晶面板的关键零件。偏光片的基本结构是由下列膜材依次复合而成：保护膜、三醋酸纤维素(TAC)、聚乙烯醇(PVA)、三醋酸纤维素(TAC)、压敏胶(PSA)、离型膜；其中起到偏振作用的是PVA，PVA两侧复合具有高光透过率，并有一定机械强度的TAC薄膜进行保护。

偏光片是由几层膜材复合组成，生产工艺流程比较复杂，工艺过程中使用的物料众多，在多层膜材复合的过程中，在层与层之间容易引入异物造成偏光片品质不良，影响产品的美观和质量，更严重的是，影响整个液晶显示器的显示效果，给企业带来不可估计的经济损失。此外，偏光片的厚度为100-200um，在高倍数的金相显微镜下虽然可以看到异物处于偏光片的哪个夹层之间，但无法检测异物的具体成分，无法找到产生异物的源头；而红外光谱仪由于无法直接穿透多层结构的偏光片，所以也不能直接检测偏光片中的异物的成分。

因而，研发一种能够鉴定偏光片内的异物的方法显得尤为重要，它可以明确偏光片内的异物的成分，从而判断偏光片内的异物的来源，可以及时地对生产方式进行改进，有效降低偏光片的不良率，减少企业的经济损失。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种偏光片的异物鉴定方法，可以鉴定偏光片内的异物的成分，从而判断偏光片内的异物的来源。

本发明的目的采用如下技术方案实现：

一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，包括以下步骤：

削片的步骤：确定偏光片内异物所处的位置，对偏光片进行削片，通过控制削片的深度，使得异物裸露出来；

提取异物的步骤：用样品针将所述削片的步骤中裸露的异物提取出来，得到异物样品；

鉴定异物的步骤：用红外光谱仪对所述异物样品进行检测，得到红外光谱图；将所述红外光谱图与数据库中的红外光谱图进行比对，从而确定异物的成分。

进一步地，所述鉴定异物的步骤中，所述红外光谱仪的检测模式为透射；所述红外光谱仪的检测器为冷却后，分辨率为4-16cm^-1；所述红外光谱仪的采集条件为1-25s扫描8-128次。

进一步地，所述鉴定异物的步骤中，所述红外光谱仪的检测模式为透射；所述红外光谱仪的检测器为冷却后，分辨率为4cm^-1或8cm^-1；所述红外光谱仪的采集条件为12s扫描64次或3s扫描16次。

进一步地，所述削片的步骤中，使用高倍数的金相显微镜确认异物的位置；使用旋转削片机进行削片。

进一步地，所述削片的步骤中，削片深度为异物距离所述偏光片的上表面的深度。

进一步地，所述削片的步骤中，所述偏光片的保护层厚度为20-80μm，削片深度为10-120μm。

进一步地，所述削片的步骤之前还包括固定的步骤，所述固定的步骤为将所述偏光片水平地粘贴在玻璃上，然后转移至削片平台上。

进一步地，所述鉴定异物的步骤中，数据库中的红外光谱图为偏光片生产过程中使用的辅材以及接触的环境异物的红外光谱图。