[发明专利]使用校正因子的显微成像方法

权利要求书

1.一种显微成像方法，包括以下步骤：

用照明辐射照明样品(1)并沿着检测轴线捕获检测辐射，所述检测辐射已经由所述照明辐射引起，

在第一次时作为宽场信号(WF)，以及

在第二次时作为复合信号(CI)，所述复合信号由共焦信号和宽场信号(WF)的叠加来形成，

通过从所述复合信号(CI)减去所述宽场信号(WF)来提取所述共焦信号，

其中使用校正因子，

所述方法的特征在于，

为每个执行的成像和/或为每个成像的样品(1)确定当前校正因子，以及

使用相应的当前校正因子来提取所述共焦信号。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，出于在距所述样品(1)的表面(Ao)一距离处沿着检测轴线所选择的校正平面中确定当前校正因子的目的，至少一个校正宽场图像和一个校正复合图像各被捕获，其图像数据被确定并且当前校正因子基于所确定的图像数据来确定，其中所述校正平面的距离选择得这么较大，使得没有所述表面(Ao)的结构穿过所述校正平面。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述距离选自用于捕获所述检测辐射的物镜镜头的点扩散函数的四到六个半高全宽的范围。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，至少一个校正宽场图像和一个校正复合图像各在当前焦平面的前面和后面的校正平面中被捕获。

5.根据权利要求2至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述当前校正因子从校正宽场图像和校正复合图像的平均亮度来确定。

6.根据权利要求2至5中任一项所述的方法，其特征在于，为校正图像的每个像素对确定当前校正因子。