[发明专利]使用校正因子的显微成像方法有效
申请号: | 201910558190.1 | 申请日: | 2019-06-25 |
公开(公告)号: | CN110658617B | 公开(公告)日: | 2023-10-20 |
发明(设计)人: | V.德雷舍;N.兰霍尔兹 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 |
主分类号: | G02B21/00 | 分类号: | G02B21/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王蕊瑞 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 校正 因子 显微 成像 方法 | ||
本发明涉及显微成像方法,其包含以下步骤:用照明辐射照明样品(1)并沿着检测轴线捕获检测辐射,所述检测辐射已经由照明辐射引起,在第一次时作为宽场信号(WF)且在第二次时作为复合信号(CI),所述复合信号已经由共焦图像和宽场图像的叠加来形成;通过从复合信号(CI)减去宽场信号(WF)来提取共焦图像,其中使用校正因子。所述方法的特征在于,为每个执行的成像和/或为每个成像的样品(1)确定当前校正因子,并且使用相应的当前校正因子来提取共焦图像。
技术领域
本发明涉及根据独立权利要求的前序部分的显微成像方法。
背景技术
在显微术的技术领域中(例如在生物/技术样品或样品区域的高分辨率三维表示中),现有的问题在于用照明辐射的最低可能的强度照射样品,而同时具有可用于高分辨率检测和成像的高强度的检测辐射。同时,提供图像数据并随后成像应该在最短可能的时间内实现,理想地实时地来实现。
DE 10 2014 004 249 A1已经公开了相关的旋转盘显微术的方法。在通过其中公开的相关的旋转盘显微术来确定样品的形貌的方法中,执行以下步骤:在交替捕获放置在物体台上的样品的第一图像和第二图像期间,存在物体台和/或聚焦驱动器的垂直移动。在该过程中,垂直聚焦位置被储存为每个图像的元数据。在其他步骤中插值两个第一图像和两个第二图像,并且获得中间图像或中介图像。出于为某一垂直位置产生共焦图像的目的,中介图像通过计算与所述位置处的第二图像或第一图像组合。
从WO 97/31282 A1已知,出于产生复合图像和非共焦图像的目的,在照明和/或检测束路径中使用适当的掩模。通过从这两个图像类型计算,由适当的组合来提取共焦图像。这允许非常快速的成像。同时,使用高比例的检测光,所以用低强度的照明辐射照明样品是足够的。
Neil等人(Neil,M.A.A等人,(1997),A light efficient optically sectioningmicroscope;Journal of Microscopy 189:114-117)和Wilson等人(Wilson,T.等人,(1996),Confocal microscopy by aperture correlation;OPTICS LETTERS 21:1879-1881)的出版物同样提出了这样的可能性:通过其可以从复合图像和宽场图像中提取共焦信号。
当计算共焦图像时,可以使用以下公式:
共焦信号=(复合信号)-n×(宽场信号)。
在此,因子n是为成像系统确定一次并在没有改变的情况下应用的校正因子,并且因子n独立于样品。校正因子用于补偿系统相关的偏差,例如复合信号和宽场信号的光路径的不同传输值。使用该进程,例如可以沿着下文还称为z轴的检测轴线来捕获图像的堆栈(z-堆栈),并且可以出于三维成像的目的(例如样品的形貌)组合这些图像。
发明内容
本发明基于以下目的,提出三维成像的改进选项,特别是使用低照明强度。
该目的通过下文所述的显微成像方法来实现。在下文中发现有利的发展例。
显微成像方法包含以下步骤:用照明辐射照明样品并沿着检测轴线捕获检测辐射,所述检测辐射已经由照明辐射引起。在第一次时,检测辐射被捕获作为宽场信号,在第二次时,检测辐射被捕获作为复合信号,所述复合信号由共焦图像或其信号以及宽场信号的叠加来形成。共焦图像通过从复合图像减去宽场图像,并使用校正因子来获得。在此,从复合信号中减去宽场图像信号,并考虑校正因子。
该方法的特征在于,为每个执行的成像和/或为每个成像的样品来确定当前校正因子。使用相应的当前校正因子来提取相应的共焦图像。
令人意外地,发现为最初设想的应用设定一次成像系统的校正因子是完全足够的;然而,根据本发明的方法不仅减少成像像差而且允许检查新类别的材料。
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