[发明专利]射频探针的测试装置和测试方法

权利要求书

1.一种射频探针的测试装置，包括供射频探针插入检测的射频同轴外壳(1)、安装于射频同轴外壳(1)轴向端部用于获取射频探针输出信号的测试转接器(2)以及电连接于测试转接器(2)的主机控制端(3)，其特征在于：所述射频同轴外壳(1)包括开设有安装孔供射频探针插接的内轴筒(11)、套设固定于内轴筒(11)面向测试转接器(2)一侧的外底筒(12)、滑移套设于内轴筒(11)远离测试转接器(2)一侧的外顶筒(13)以及设置于外底筒(12)和外顶筒(13)之间具有驱使外顶筒(13)远离外底筒(12)弹性的弹性件(14)；所述外顶筒(13)和内轴筒(11)之间设置有限制外顶筒(13)滑出内轴筒(11)的限位副；当所述外顶筒(13)受限位副限位时，所述外顶筒(13)远离射频转接器的轴向端面从内轴筒(11)离射频转接器的轴向端面处凸出；

所述限位副包括一体连接于内轴筒(11)外圆远离外底筒(12)一侧的外环凸缘(16)以及一体连接于外顶筒(13)内圆面向外底筒(12)一侧的内环凸缘(17)，所述内轴筒(11)的外圆和外顶筒(13)的内圆之间设置有0.1至0.16mm的偏摆间隔。

2.根据权利要求1所述的射频探针的测试装置，其特征在于：所述外顶筒(13)远离射频转接器的轴向端面从内轴筒(11)离射频转接器的轴向端面处凸出的距离为1.0至1.6mm。

3.根据权利要求1所述的射频探针的测试装置，其特征在于： 所述外环凸缘(16)和外顶筒(13)内圆之间的间隔大于内轴筒(11)外圆和内环凸缘(17)之间的间隔。

4.根据权利要求1所述的射频探针的测试装置，其特征在于：所述弹性件(14)为套设于内轴筒(11)上的压簧，所述压簧的两端分别抵接于外顶筒(13)和外底筒(12)。

5.根据权利要求1所述的射频探针的测试装置，其特征在于：所述主机控制端(3)接收从测试转接头传递的驻波信号，计算获得驻波信号的测试驻波比，基于比较测试驻波比和预设驻波比阈值输出判断信号。

6.一种应用权利要求1至5任一所述测试装置的射频探针的测试方法，其特征在于：包括：

将射频探针插入射频同轴外壳(1)的安装孔内，使得测试转接器(2)获取射频探针输出的射频信号；

沿射频探针的周向按压射频探针，使得射频探针在安装孔内产生轴向滑移，并在安装孔内出现各个角度的偏摆；

主机控制端(3)接收从测试转接头传递的驻波信号，基于比较测试驻波比和预设驻波比阈值输出判断信号。

7.根据权利要求6所述的射频探针的测试方法，其特征在于：沿射频探针的周向按压射频探针包括沿频探针的0°、90°、180°和270°的位置分别按压射频探针5次。

8.根据权利要求7所述的射频探针的测试方法，其特征在于：按压射频探针的频率为每2秒5次。