[发明专利]一种辐射射线类型的甄别方法、装置和介质有效
申请号: | 201910568269.2 | 申请日: | 2019-06-27 |
公开(公告)号: | CN110261887B | 公开(公告)日: | 2023-03-21 |
发明(设计)人: | 徐守龙;邹树粱;韩永超;吴其反;徐玲;邓骞;刘军 | 申请(专利权)人: | 南华大学 |
主分类号: | G01T1/38 | 分类号: | G01T1/38;G06F16/245 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 史翠 |
地址: | 421001 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 辐射 射线 类型 甄别 方法 装置 介质 | ||
1.一种辐射射线类型的甄别方法,其特征在于,包括:
获取辐射场的暗图像;其中,所述暗图像由光学传感器进行遮光处理得到;
提取各暗图像的白斑特征参数,所述白斑特征参数包括独立白色斑点的尺寸值、峰值和外形轮廓;
根据所述白斑特征参数,查找预先建立射线特征库,以确定出所述辐射场所对应的射线类型;其中,所述射线特征库中包括每种类型的辐射射线对图像传感器进行辐射所产生的特征参数,所述每种类型的辐射射线对图像传感器进行辐射所产生的特征参数是通过仿真模拟的方式获取的;
其中,所述提取各暗图像的白斑特征参数包括:
利用点查找和边缘查找法,确定出辐射射线在各暗图像中产生的白色斑点;
分析各所述白色斑点所在位置的背景图像;
提取各暗图像中的独立白色斑点,并依据相应的背景图像,确定出各独立白色斑点的白斑特征参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述射线特征库中包括α射线、β射线、质子、X射线、γ射线各自对图像传感器进行辐射所产生的特征参数。
3.一种辐射射线类型的甄别装置,其特征在于,包括获取单元、提取单元和查找单元;
所述获取单元,用于获取辐射场的暗图像;其中,所述暗图像由光学传感器进行遮光处理得到;
所述提取单元,用于提取各暗图像的白斑特征参数,所述白斑特征参数包括独立白色斑点的尺寸值、峰值和外形轮廓;
所述查找单元,用于根据所述白斑特征参数,查找预先建立射线特征库,以确定出所述辐射场所对应的射线类型;其中,所述射线特征库中包括每种类型的辐射射线对图像传感器进行辐射所产生的特征参数,所述每种类型的辐射射线对图像传感器进行辐射所产生的特征参数是通过仿真模拟的方式获取的;
其中,所述提取单元包括斑点确定子单元、分析子单元和参数确定子单元;
所述斑点确定子单元,用于利用点查找和边缘查找法,确定出辐射射线在各暗图像中产生的白色斑点;
所述分析子单元,用于分析各所述白色斑点所在位置的背景图像;
所述参数确定子单元,用于提取各暗图像中的独立白色斑点,并依据相应的背景图像,确定出各独立白色斑点的白斑特征参数。
4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述射线特征库中包括α射线、β射线、质子、X射线、γ射线各自对图像传感器进行辐射所产生的特征参数。
5.一种辐射射线类型的甄别装置,其特征在于,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序以实现如权利要求1至2任意一项所述辐射射线类型的甄别方法的步骤。
6.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至2任一项所述辐射射线类型的甄别方法的步骤。
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