[发明专利]一种辐射射线类型的甄别方法、装置和介质

说明书

本发明实施例公开了一种辐射射线类型的甄别方法、装置和介质，获取辐射场的暗图像；提取各暗图像的白斑特征参数。不同类型的辐射射线的性能不同，相应的图像传感器在不同类型的辐射射线下所采集的图像的白斑特征参数有所差异。在该技术方案中，可以预先存储每种类型的辐射射线对图像传感器进行辐射所产生的特征参数，这些特征参数以射线特征库的形式存在。获取到辐射场下各暗图像的白斑特征参数之后，可以查找预先建立的射线特征库，确定出辐射场所对应的射线类型。该技术方案可以准确的识别复杂核辐射环境下的辐射射线类型。并且不需要利用转换介质，便可以直接探测并识别辐射场中的不带电粒子。

技术领域

本发明涉及辐射场技术领域，特别是涉及一种辐射射线类型的甄别方法、装置和计算机可读存储介质。

背景技术

电离辐射是指能够引起物质电离的辐射总称，其种类很多，高速带电粒子有α粒子、β粒子、质子，不带电粒子有X射线、γ射线。不同类型的射线性能不同，相应的，对于不同类型的射线所采取的防护措施有所差异。只有确定出辐射场的辐射射线的类型，才能采取相适用的措施。可见如何准确的识别出辐射场环境下的辐射射线的类型至关重要。

传统的电离辐射射线甄别方法是利用谱仪分析γ射线的特征能量并推导放射性核素类型。但是谱仪属于精密仪器，难以进入复杂核设施退役或核事故环境。同时需要专用的探测器来甄别α粒子、β粒子和γ粒子。

可见，如何准确的识别复杂核辐射环境下的辐射射线类型，是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本发明实施例的目的是提供一种辐射射线类型的甄别方法、装置和计算机可读存储介质，可以准确的识别复杂核辐射环境下的辐射射线类型。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种辐射射线类型的甄别方法，包括：

获取辐射场的暗图像；其中，所述暗图像由光学传感器进行遮光处理得到；

提取各暗图像的白斑特征参数；

根据所述白斑特征参数，查找预先建立射线特征库，以确定出所述辐射场所对应的射线类型；其中，所述射线特征库中包括每种类型的辐射射线对图像传感器进行辐射所产生的特征参数。

可选的，所述提取各暗图像的白斑特征参数包括：

利用点查找和边缘查找法，确定出辐射射线在各暗图像中产生的白色斑点；

分析各所述白色斑点所在位置的背景图像；

提取各暗图像中的独立白色斑点，并依据相应的背景图像，确定出各独立白色斑点的白斑特征参数。

可选的，所述白斑特征参数包括独立白色斑点的尺寸值、峰值和外形轮廓。

可选的，所述射线特征库中包括α射线、β射线、质子、X射线、γ射线各自对图像传感器进行辐射所产生的特征参数。

本发明实施例还提供了一种辐射射线类型的甄别装置，包括获取单元、提取单元和查找单元；

所述获取单元，用于获取辐射场的暗图像；其中，所述暗图像由光学传感器进行遮光处理得到；

所述提取单元，用于提取各暗图像的白斑特征参数；

所述查找单元，用于根据所述白斑特征参数，查找预先建立射线特征库，以确定出所述辐射场所对应的射线类型；其中，所述射线特征库中包括每种类型的辐射射线对图像传感器进行辐射所产生的特征参数。

可选的，所述提取单元包括斑点确定子单元、分析子单元和参数确定子单元；

所述斑点确定子单元，用于利用点查找和边缘查找法，确定出辐射射线在各暗图像中产生的白色斑点；

所述分析子单元，用于分析各所述白色斑点所在位置的背景图像；