[发明专利]存储器装置

说明书

提供了一种存储器装置，所述存储器装置包括：第一存储器单元和与第一存储器单元不同的第二存储器单元，其中，第一存储器单元和第二存储器单元包括在同一个存储器块中；第一字线，连接到第一存储器单元；第二字线，与第一字线不同，连接到第二存储器单元；地址解码器，将擦除电压和与擦除电压不同的禁止电压中的一个施加到第一字线和第二字线中的每条；以及控制逻辑，使用地址解码器来控制对存储器块的擦除操作，其中，当执行对存储器块的擦除操作时，在施加擦除电压之后将禁止电压施加到第一字线，并且在施加禁止电压之后将擦除电压施加到第二字线。

本申请要求于2018年9月28日在韩国知识产权局提交的第10-2018-0116555号韩国专利申请的权益，该韩国专利申请的公开内容通过引用全部包含于此。

技术领域

本发明构思涉及存储器装置和使用该存储器装置的存储系统，所述存储器装置使用存储器块的擦除操作来检测字线桥接缺陷。

背景技术

存储器装置是可以在必要时存储数据并读取数据的存储装置。存储器装置可以大致分为即使没有供电也不擦除存储的数据的非易失性存储器(NVM)以及如果没有供电则擦除存储的数据的易失性存储器(VM)。

为了控制布置在存储器装置中的多个存储器单元，可以在存储器装置内部布置和使用各种布线。这些布线的示例可以包括连接到存储器单元的字线和位线。

随着存储器装置的尺寸逐渐小型化，布置在其中的布线之间的间隔或距离也变窄。因此，可能发生诸如其中彼此绝缘的布线彼此不期望地电连接的桥接缺陷的各种缺陷。由于这种缺陷使存储器装置的操作性能劣化，因此用于检测和/或修复这种缺陷的研究是必要的。

发明内容

本发明构思的多个方面提供了用于通过存储器装置的擦除验证来检测字线桥接缺陷的存储器装置和存储系统。

根据本发明构思的一些方面，存储器装置包括：第一存储器单元和与第一存储器单元不同的第二存储器单元，其中，第一存储器单元和第二存储器单元彼此包括在同一个存储器块中；第一字线，连接到第一存储器单元；第二字线，与第一字线不同，连接到第二存储器单元；地址解码器，被配置为将擦除电压和与擦除电压不同的禁止电压中的一个施加到第一字线和第二字线中的每条；以及控制逻辑，被配置为使用地址解码器来控制对存储器块的擦除操作，其中，当执行对存储器块的擦除操作时，在施加擦除电压之后将禁止电压施加到第一字线，并且在施加禁止电压之后将擦除电压施加到第二字线。

根据本发明构思的一些方面，存储器装置包括：第一存储器单元和与第一存储器单元不同的第二存储器单元，其中，第一存储器单元和第二存储器单元彼此包括在同一个存储器块中；第一字线和与第一字线不同的第二字线，第一字线连接到第一存储器单元，并且第二字线连接到第二存储器单元；地址解码器，连接到第一字线和第二字线；以及控制逻辑，被配置为控制地址解码器以执行存储器块的擦除操作和存储器块的擦除验证操作，其中，控制逻辑被配置为对存储器块执行第一擦除操作以将擦除电压和与擦除电压不同的禁止电压中的一个施加到第一字线和第二字线中的每条，并对存储器块执行第一擦除验证操作以验证存储器块是否被擦除，其中，在执行第一擦除操作时，至少在时间阶段的一部分期间将禁止电压施加到第二字线，在时间阶段的所述一部分期间将擦除电压施加到第一字线，至少在时间阶段的另一部分期间将禁止电压施加到第一字线，在时间阶段的所述另一部分期间将擦除电压施加到第二字线，其中，控制逻辑被配置为响应于由于执行第一擦除验证操作而将存储器块的擦除确定为失败来确定存储器块中存在字线桥接缺陷。