[发明专利]图像配准方法及终端设备

权利要求书

1.一种图像配准方法，其特征在于，包括：

获取不同材料构成的被测件的参考图像和对比图像；所述参考图像和所述对比图像均为给所述被测件施加固定光强时热反射成像测温装置上的探测器拍摄的所述被测件的图像；所述获取不同材料构成的被测件的参考图像和对比图像，包括：获取不同材料构成的被测件的第一张图像，并将所述第一张图像作为参考图像；继续获取所述被测件的多张后续图像，并将所述后续图像作为对比图像；

根据所述参考图像和所述对比图像上的预设特征点，获取所述被测件相对所述探测器的位置改变量；所述预设特征点设置在被测件上；

根据所述位置改变量反复调整所述热反射成像测温装置上的纳米位移台的位置，并获取每次所述纳米位移台位置调整后的所述被测件的新图像；

根据所述新图像与所述参考图像，确定所述新图像中与所述参考图像误差最小的新图像为有效图像。

2.如权利要求1所述的图像配准方法，其特征在于，所述根据所述参考图像和所述对比图像上的预设特征点，获取所述被测件相对所述探测器的位置改变量，包括：

根据所述参考图像上的第一预设特征点，获得所述第一预设特征点的第一坐标；

根据所述对比图像上与所述第一预设特征点位置相同的第二预设特征点，获得所述第二预设特征点的第二坐标；

当所述第一坐标和所述第二坐标不同时，将所述第一坐标和所述第二坐标发送给终端设备，以获取所述终端设备计算的所述被测件相对所述探测器的位置改变量。

3.如权利要求2所述的图像配准方法，其特征在于，所述终端设备根据计算所述被测件相对所述探测器的位置改变量；

其中，所述x'和所述y'分别表示所述位置改变量的横坐标值和纵坐标值，所述x₀和所述y₀分别表示所述第一坐标的横坐标值和纵坐标值，所述x_n和所述y_n分别表示所述第二坐标的横坐标值和纵坐标值。

4.如权利要求3所述的图像配准方法，其特征在于，所述根据所述位置改变量反复调整所述热反射成像测温装置上的纳米位移台的位置，包括：

根据所述位置改变量控制所述热反射成像测温装置上的纳米位移台分别以第一步进量和多个第二步进量多次调整纳米位移台向所述第一坐标移动；

其中，所述第一步进量大于所述第二步进量。

5.如权利要求4所述的图像配准方法，其特征在于，所述根据所述位置改变量反复调整所述热反射成像测温装置上的纳米位移台的位置，并获取每次所述纳米位移台位置调整后的所述被测件的新图像，包括：

根据所述位置改变量控制所述热反射成像测温装置上的纳米位移台以第一步进量和第一速度调整纳米位移台向所述第一坐标移动，获取移动后的第三坐标；

将所述第三坐标与所述第一坐标发送给所述终端设备，以获取所述终端设备发送的新位置改变量；

根据所述新位置改变量控制所述热反射成像测温装置上的纳米位移台以第二步进量和第二速度在预设像素点范围内进行纳米位移台的位置迭代调整，并获取每次所述纳米位移台位置调整后的所述被测件的新图像。

6.如权利要求1至5中任一项所述的图像配准方法，其特征在于，所述根据所述新图像与所述参考图像，确定所述新图像中与所述参考图像误差最小的新图像为有效图像，包括：

分别对每一新图像的每个像素与所述参考图像中的每个像素做误差运算；

根据所述误差运算结果，确定所述误差运算结果中误差最小的新图像为有效图像。

7.如权利要求6所述的图像配准方法，其特征在于，在所述根据所述新图像与所述参考图像，确定所述新图像中与所述参考图像误差最小的新图像为有效图像之后，还包括：

计算所述有效图像和所述参考图像中各个测量单元的反射率变化量；

根据所述反射率变化量计算各个像元对应的温度。