[发明专利]半导体存储装置有效
申请号: | 201910599604.5 | 申请日: | 2019-07-04 |
公开(公告)号: | CN111667856B | 公开(公告)日: | 2023-10-03 |
发明(设计)人: | 桥本寿文 | 申请(专利权)人: | 铠侠股份有限公司 |
主分类号: | G11C5/14 | 分类号: | G11C5/14;G11C7/10;G11C8/08 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 杨林勳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
1.一种半导体存储装置,具备:
第1存储晶体管;
第1配线,连接在所述第1存储晶体管的栅极电极;
第1连接晶体管,连接在所述第1配线;以及
第2配线,连接在所述第1连接晶体管;且
在针对所述第1存储晶体管的第1写入动作的
第1时刻,所述第1配线的电压成为第1电压,所述第2配线的电压成为比所述第1电压大的第2电压,
在所述第1时刻之后的第2时刻,所述第1配线的电压成为比所述第1电压大且比所述第2电压小的第3电压,所述第2配线的电压成为比所述第1电压大且比所述第2电压小的第4电压。
2.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其具备对所述第1存储晶体管供给电压的周边电路,
对所述周边电路供给接地电压及电源电压,
所述第2电压、所述第3电压及所述第4电压大于所述电源电压。
3.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中
在所述第1写入动作的
所述第1时刻及所述第2时刻之间的第3时刻,所述第1配线的电压上升,
在所述第3时刻、或所述第3时刻及所述第2时刻之间的第4时刻,所述第2配线的电压下降。
4.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中
在所述第1写入动作的
所述第2时刻之后的第5时刻,所述第1配线的电压成为比所述第3电压小的第5电压,所述第2配线的电压成为比所述第4电压大的第6电压,
在所述第5时刻之后的第6时刻,所述第1配线的电压成为比所述第3电压大且比所述第6电压小的第7电压,所述第2配线的电压成为比所述第4电压大且比所述第6电压小的第8电压。
5.根据权利要求4所述的半导体存储装置,其中所述第6电压大于所述第2电压。
6.根据权利要求4所述的半导体存储装置,其中所述第2电压及所述第4电压的电压差与所述第6电压及所述第8电压的电压差大致一致。
7.根据权利要求4所述的半导体存储装置,其中所述第2电压及所述第6电压大致一致。
8.根据权利要求4所述的半导体存储装置,其中
在所述第1写入动作的
所述第1时刻及所述第2时刻之间的第3时刻,所述第1配线的电压上升,
在所述第3时刻及所述第2时刻之间的第4时刻,所述第2配线的电压下降,
在所述第5时刻及所述第6时刻之间的第7时刻,所述第1配线的电压上升,
在所述第7时刻及所述第6时刻之间的第8时刻,所述第2配线的电压下降。
9.根据权利要求8所述的半导体存储装置,其中从所述第7时刻到所述第8时刻为止的期间的长度与从所述第3时刻到所述第4时刻为止的期间的长度大致一致。
10.根据权利要求8所述的半导体存储装置,其中从所述第7时刻到所述第8时刻为止的期间比从所述第3时刻到所述第4时刻为止的期间长。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的半导体存储装置,其具备:
第2存储晶体管;
第3配线,连接在所述第2存储晶体管的栅极电极;
第2连接晶体管,连接在所述第3配线;以及
所述第2配线,连接在所述第2连接晶体管;且
在针对所述第2存储晶体管的第2写入动作的
第9时刻,所述第3配线的电压成为比所述第3电压小的第9电压,所述第2配线的电压成为比所述第4电压大的第10电压,
在所述第9时刻之后的第10时刻,所述第3配线的电压成为比所述第9电压大且比所述第10电压小的第11电压,所述第2配线的电压成为比所述第9电压大且比所述第10电压小的第12电压。
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