[发明专利]一种实现待测设备智能老化控制的装置和方法

权利要求书

1.一种实现待测设备智能老化控制的装置，包括微控制处理器、存储单元、电源、输入单元，其特征在于，还包括开关选择单元和开关单元，所述存储单元、所述电源、所述输入单元及所述开关选择单元的一端均与所述微控制处理器连接，所述开关选择单元的另一端连接所述开关单元的一端，所述开关单元的另一端连接待测设备；

所述电源，用于为所述微控制处理器、所述存储单元、所述输入单元及所述开关选择单元供电；

所述存储单元，用于存储开关单元的地址；

所述输入单元，用于接收测试指令及所述待测设备的测试时间，并将所述测试指令及所述测试时间输入至所述微控制处理器；

所述微控制处理器，用于根据所述测试指令、所述开关单元的地址及所述测试时间生成对应开关单元的电平控制信号，并将所述电平控制信号发送至开关选择单元；

所述开关选择单元，用于根据所述电平控制信号生成不同的高低电平，通过所述高低电平控制所述开关单元中对应开关的闭合或断开；

所述开关单元，用于根据所述开关选择单元的电平信号控制对应待测设备中各电路的上电或断电；

其中，所述开关选择单元包括工位开关引脚和状态开关引脚，所述开关单元包括工位开关单元和状态开关单元，所述开关选择单元通过所述工位开关引脚连接所述工位开关单元，并通过所述状态开关引脚连接所述状态开关单元；

所述工位开关引脚，用于根据所述工位开关引脚的高低电平控制所述工位开关单元的闭合或断开，控制与工位开关单元对应工位的待测设备的测试使能；

所述状态开关引脚，用于根据所述状态开关引脚的高低电平控制所述状态开关单元的闭合或断开，控制所述待测设备中与所述状态开关单元对应电路的闭合时间；

所述工位开关单元，用于控制与所述工位开关单元对应工位的测试使能；

所述状态开关单元，用于控制所述待测设备中与所述状态开关单元对应电路的闭合时间，控制所述待测设备中不同电路的老化测试时长，

其中，所述工位开关单元和所述状态开关单元有一一对应的映射关系。

2.根据权利要求1所述的一种实现待测设备智能老化控制的装置，其特征在于，还包括：

电压转换单元，所述电压转换单元的一端与电源连接，所述电压转换单元的另一端与所述开关单元连接；

电压转换单元用于当所述电源电压与所述待测设备的工作电压不相同时，将所述电源输出的电压转换为所述待测设备的工作电压。

3.根据权利要求2所述的一种实现待测设备智能老化控制的装置，其特征在于，当所述待测设备的工作电压低于所述电源的输出电压时，与对应待测设备连接的开关单元为MOS管开关。

4.根据权利要求2所述的一种实现待测设备智能老化控制的装置，其特征在于，还包括计时单元，所述计时单元与所述微控制处理器连接；

所述微控制处理器还用于将所述测试时间转换对应开关单元的测试时长，并将所述测试时长发送给所述计时单元；当接收到计时单元反馈的计时结束的信号时，生成对应开关单元的低电平的控制信号，并将所述低电平的控制信号发送给所述开关选择单元；

所述计时单元，用于当所述微控制处理器控制所述待测设备中的电路上电时，启动计时；当所述待测设备的上电时间达到所述测试时长时，向所述微控制处理器发送计时结束的信号。

5.根据权利要求1至4任一项所述的一种实现待测设备智能老化控制的装置，其特征在于，还包括监测输入单元，所述监测输入单元的一端与微控制处理器连接，所述监测输入单元的另一端与所述待测设备连接；

所述监测输入单元用于检测所述待测设备及所述待测设备中各电路的工作状态，并将所述工作状态发送至所述微控制处理器。

6.根据权利要求5所述的一种实现待测设备智能老化控制的装置，其特征在于，所述监测输入单元具体用于当发送至所述待测设备的测试信号与所述待测设备根据所述测试信号反馈的回传信号相符时，判断所述待测设备工作正常，否则，判断所述待测设备工作异常。