[发明专利]一种实现待测设备智能老化控制的装置和方法

说明书

本申请提供了一种实现待测设备智能老化控制的装置和方法，应用于电子技术领域，用于解决目前待测设备例如电视或主板老化实验存在难以单独对待测设备进行老化控制的问题。该装置包括：包括微控制处理器、存储单元、电源、输入单元，其特征在于，还包括开关选择单元和开关单元，所述存储单元、所述电源、所述输入单元及所述开关选择单元的一端均与所述微控制处理器连接，所述开关选择单元的另一端连接所述开关单元的一端，所述开关单元的另一端连接待测设备。本申请通过控制开关选择单元控制接入的每一台待测设备的通电与断电，实现对单台或多台待测设备的老化的独立控制。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种实现待测设备智能老化控制的装置和方法。

背景技术

随着科技的不断发展，智能电视的种类也越来越多，功能也越来越复杂。为了确保生产的智能电视或主板更加安全可靠，各生产厂家通常会将刚生产的智能电视或主板放到特定环境下进行老化试验，传统的老化试验一般通过人工来控制不同待测设备的老化测试，这不仅效率低，还容易出现人为失误，目前市场的开关难以同时单独控制待测设备的老化测试。

可见，目前待测设备例如电视或主板老化实验存在难以单独对待测设备进行老化控制的问题。

发明内容

为此，本发明提供一种实现待测设备智能老化控制的装置和方法，以解决现有技术中难以单独对待测设备进行老化控制的技术问题。

一种实现待测设备智能老化控制的装置，包括微控制处理器、存储单元、电源、输入单元，其特征在于，还包括开关选择单元和开关单元，所述存储单元、所述电源、所述输入单元及所述开关选择单元的一端均与所述微控制处理器连接，所述开关选择单元的另一端连接所述开关单元的一端，所述开关单元的另一端连接待测设备；

所述电源，用于为所述微控制处理器、所述存储单元、所述输入单元及所述开关选择单元供电；

所述存储单元，用于存储开关单元的地址；

所述输入单元，用于接收测试指令及所述待测设备的测试时间，并将所述测试指令及所述测试时间输入至所述微控制处理器；

所述微控制处理器，用于根据所述测试指令、所述开关单元的地址及所述测试时间生成对应开关单元的电平控制信号，并将所述电平控制信号发送至开关选择单元；

所述开关选择单元，用于根据所述电平控制信号生成不同的高低电平，通过所述高低电平控制所述开关单元中对应开关的闭合或断开；

所述开关单元，用于根据所述开关选择单元的电平信号控制对应待测设备中各电路的上电或断电。

一种实现待测设备智能老化控制的方法，包括：

接收输入的待测设备、所述待测设备的测试指令及测试时间；

根据所述待测设备的测试位置及所述测试指令中的测试对象确定开关单元的地址；

根据预先配置的所述开关单元的地址与所述开关单元的映射关系，选择对应的开关单元；

根据所述测试时间确定所述地址中对应开关单元的闭合时间；

通过电平控制信号控制选择的所述中开关单元的断开/闭合的状态及闭合的时间，完成对所述待测设备的老化测试。

在本发明实施例中，通过微控制处理器将接收的测试指令及所述待测设备的测试时间转化成对应开关单元的电平控制信号，并通过开关选择单元根据该电平控制信号控制对应开关单元的闭合或断开，使得开关单元可以根据该电平控制信号一直闭合或在某一时刻断开，由于不同的开关单元可以在接入不同的待测设备，使得本发明提供的智能老化控制的装置和方法可实现对单台或多台待测设备的老化的独立控制。

附图说明