[发明专利]一种绝缘芯棒电气性能的评估方法

权利要求书

1.一种绝缘芯棒电气性能的评估方法，其特征在于，所述绝缘芯棒电气性能的评估方法包括：对绝缘芯棒的孔隙进行测试，根据测试结果对绝缘芯棒的电气性能进行评估。

2.根据权利要求1所述的绝缘芯棒电气性能的评估方法，其特征在于，所述绝缘芯棒电气性能的评估方法包括如下步骤：

(1)对绝缘芯棒进行染料渗透测试，评估绝缘芯棒的电气性能是否合格；

(2)将步骤(1)评估合格后的绝缘芯棒进行孔隙率测试，评估绝缘芯棒的电气性能是否良好；

(3)将步骤(2)评估良好后的绝缘芯棒进行孔隙测试，评估绝缘芯棒的电气性能是否优秀。

3.根据权利要求2所述的绝缘芯棒电气性能的评估方法，其特征在于，步骤(1)所述染料渗透测试的方法包括：将待测绝缘芯棒样品截取一截作为测试样品，对测试样品的切割面进行打磨，使测试样品的两端面相互平行，将测试样品按纤维垂直向上方向放置在球上，所述球置于容器中，将染色液放入容器中，使染色液穿过芯棒上升，如果在测试时间内出现染色液贯穿现象，记录染色液贯穿的时间与测试样品上端面的形貌，确定内部交界面贯穿通道所在的位置。

4.根据权利要求2或3所述的绝缘芯棒电气性能的评估方法，其特征在于，所述染料渗透测试中，测试样品的长度为5-15mm，优选10mm；

优选地，所述染料渗透测试中，球的直径为1-2mm；

优选地，所述染料渗透测试中，染色液包括品红的醇溶液；

优选地，所述醇包括甲醇和/或乙醇；

优选地，所述染色液的浓度为不低于1％；

优选地，所述染料渗透测试中，所述测试时间为1.8-2.2h，优选为2h；

优选地，所述染料渗透测试中，还包括在确定内部交界面贯穿通道所在的位置后，用扫描电子显微镜对微观通道进行观察。

5.根据权利要求2-4任一项所述的绝缘芯棒电气性能的评估方法，其特征在于，步骤(1)所述染料渗透测试中染料贯穿绝缘芯棒，绝缘芯棒的电气性能不合格；

优选地，步骤(1)所述染料渗透测试中染料不能贯穿绝缘芯棒，绝缘芯棒的电气性能合格。

6.根据权利要求2-5任一项所述的绝缘芯棒电气性能的评估方法，其特征在于，步骤(2)所述孔隙率测试是通过压汞法进行的；

优选地，所述压汞法包括：在压力作用下将汞压入步骤(1)评估合格后的绝缘芯棒的内部，测试孔隙率；

优选地，所述压汞法的工作参数包括：排气时间为3-8min，平衡时间为8-15s，平衡压强为0.45-0.55Pa；

优选地，所述孔隙率是通过压入汞的体积与步骤(1)评估合格后的绝缘芯棒的体积的百分比。

7.根据权利要求2-6任一项所述的绝缘芯棒电气性能的评估方法，其特征在于，步骤(2)所述孔隙率＞2％，绝缘芯棒的电气性能合格；

优选地，步骤(2)所述孔隙率≤2％，绝缘芯棒的电气性能良好。

8.根据权利要求2-7任一项所述的绝缘芯棒电气性能的评估方法，其特征在于，步骤(3)所述孔隙是通过显微CT进行测试；

优选地，所述显微CT的测试方法包括：以X射线源发射X射线，穿透步骤(2)评估良好后的绝缘芯棒，进行180°以上的不同角度成像，通过计算机软件将不同角度的图像进行重构，还原形成3D图像，测试步骤(2)评估良好后的绝缘芯棒的截面的孔隙；

优选地，所述显微CT的扫描精度不超过1μm。

9.根据权利要求8所述的绝缘芯棒电气性能的评估方法，其特征在于，步骤(3)所述孔隙测试中单个孔隙最大不超过20μm，且超过10μm的孔隙个数不超过100个绝缘芯棒的电气性能优秀；

优选地，步骤(3)所述孔隙测试中单个孔隙最大超过20μm，或超过10μm的孔隙个数超过100个，绝缘芯棒的电气性能良好。

10.根据权利要求1-9任一项所述的绝缘芯棒电气性能的评估方法，其特征在于，所述绝缘芯棒的材质为玻璃纤维增强环氧树脂；

优选地，所述增强的方式包括绕、引拔或真空浸渍。