[发明专利]一种图像配准方法、图像配准装置及终端

说明书

本发明适用于图像处理技术领域，提供了一种图像配准方法、图像配准装置及终端，所述图像配准方法包括：获取平移图样，根据平移图样上的每个平移点对目标图像进行平移配准，得到多个候选图像，计算各个候选图像与指定的基准图像的互相关度，将与基准图像的互相关度最大的候选图像确定为选中图像，若选中图像与基准图像的互相关度符合预设条件，将选中图像确定为目标图像的配准图像；否则，将选中图像对应的平移点作为新的零平移点，对本次平移配准各非零平移点进行平移和预设角度的旋转更新，获得下一次平移图样，基于下一次平移图样进行平移配准，直到选中图像与基准图像的互相关度符合预设条件。本发明能够提高显微热成像测量温度的准确性。

技术领域

本发明属于图像处理技术领域，尤其涉及一种图像配准方法、图像配准装置、终端及计算机可读存储介质。

背景技术

光热反射测温技术是一种非接触测温技术，其利用光热反射现象中的被光照射的物体的反射光强度的变化率随着物体的温度变化而变化的原理，通过测量被测物体的反射光强度的变化率可实现被测物体的温度测量。

为了实现高空间分辨力的显微热成像，通常采用基于高性能的光学显微镜来组建显微光反射热成像装置。利用光学显微镜的照明系统提供探测光照射被测物体，使用光学显微镜的高性能相机记录照射的被测物体的图像，通过光学显微镜的高性能相机记录照射的被测物体的图像获得反射光强度的变化率。为了保证测量精度，在获取反射光强度的变化率时通常需要对获取的多个被测物体的图像的反射光强度的变化率取均值。

但在获取被测物体的多个图像的过程中，由于振动、漂移等影响因素的存在，获取的被测物体的多个图像的像素点存在偏移，而反射光强度的变化率精度较高，在图像灰度变化陡峭的部分，即使亚像素量级的像素点的偏移也会导致最终温度数据产生明显的误差，使得利用显微热成像测得的温度准确度较低。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种图像配准方法、图像配准装置、终端及计算机可读存储介质，旨在解决利用显微热成像测量温度的准确度较低的问题。

本发明实施例的第一方面提供了一种图像配准方法，所述图像配准方法包括：

获取平移图样，其中，所述平移图样包括多个平移点，所述多个平移点包括一个零平移点和以预设规则环绕该零平移点分布的两个以上的非零平移点；

根据所述平移图样上的每个平移点对目标图像进行平移配准，得到多个候选图像；

计算各个候选图像与指定的基准图像的互相关度，将与所述基准图像的互相关度最大的候选图像确定为选中图像；

判断所述选中图像与所述基准图像的互相关度是否符合预设条件；

若所述选中图像与所述基准图像的互相关度符合预设条件，则将所述选中图像确定为所述目标图像的配准图像；

若所述选中图像与所述基准图像的互相关度不符合预设条件，则将所述选中图像对应的平移点作为新的零平移点，对本次平移配准对应的各非零平移点进行平移更新和预设角度的旋转更新，获得下一次平移配准对应的平移图样，并基于下一次平移配准对应的平移图样进行平移配准，直到所述选中图像与所述基准图像的互相关度符合预设条件。

可选的，在所述计算各个候选图像与指定的基准图像的互相关度之前还包括：

获取多个待配准的目标图像；

根据预设的规则在所述待配准的目标图像中选取一个待配准的目标图像作为指定的基准图像。

可选的，所述计算各个候选图像与指定的基准图像的互相关度包括：

计算各个候选图像与指定的基准图像的像素误差；

根据所述候选图像与指定的基准图像的像素误差确定各个候选图像与指定的基准图像的互相关度。