[发明专利]处理图像的方法

权利要求书

1.一种由计算单元执行的用于处理原始图像的方法，其特征在于，原始测量S_(i,j)由检测器(1)的根据n行(L_i)和m列(C_j)以矩阵方式布置的测辐射热计Pix_(i,j)收集，并且，所述测辐射热计Pix_(i,j)包括暴露的测辐射热计(Pix_exp_(i,j))和被遮住的掩蔽的测辐射热计(Pix_mask_(i,j))，该方法包括：

a)计算与掩蔽的测辐射热计(Pix_mask_(i,j))相关的掩蔽项S_mask_norm_(i,j)，该计算包括从给定列(C_j)的每个掩蔽的测辐射热计(Pix_mask_(i,j))的原始测量S_(i,j)中减去所述列的掩蔽的测辐射热计的原始测量S_(i,j)的平均值；

b)使掩蔽项S_mask_norm_(i,j)与掩蔽的测辐射热计(Pix_mask_(i,j))的校准分量S_mask_cal_(i,j)之间相关，根据以下关系确定：

所述项S_mask_ref_(i,j)是在参考温度(Tr)下并且通过用也保持在参考温度(Tr)的掩蔽件来掩蔽检测器获得的掩蔽测辐射热计参考测量(Pix_mask_(i,j))；

c)校正原始图像的步骤，该步骤包括基于相关步骤b)的结果来计算每个测辐射热计(Pix_(i,j)的校正图像的校正测量S_Cor_(i,j)。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述检测器包括专用于保存校准分量S_mask_cal_(i,j)的存储空间。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述相关步骤b)包括线性回归，使得每个掩蔽项S_mask_norm_(i,j)和校准分量S_mask_cal_(i,j)满足以下关系：

S_mask_norm_(i,j)＝β.S_mask_cal_(i,j)+D_offset

其中β和D_offset是线性回归期间确定的项。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述校正步骤c)包括根据以下关系计算每个测辐射热计(Pix_(i,j))的校正测量S_Cor_(i,j)：

S_Cor_(i,j)＝S_(i,j)-β.S_cal_(i,j)-D_offset

其中，对于给定的辐射热计(Pix_(i,j))，S_cal_(i,j)是根据以下关系确定的校准分量：

项S_ref_(i,j)是在参考温度(Tr)下并且通过用也保持在参考温度(Tr)的掩蔽件来掩蔽检测器的测辐射热计(Pix_(i,j))的参考测量。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述校准分量S_cal_(i,j)保存在检测器的存储空间中。

6.根据权利要求4或5所述的方法，其中，所述方法还包括以下步骤：

d)对于列(Cj)中的每一列，计算对应于所考虑的列的掩蔽的测辐射热计Pix_mask_(i,j)的测量S_(i,j)的平均值的列项Col_mask_(j)；

e)使列项Col_mask_(j)和掩蔽的测辐射热计(Pix_mask_(i,j))的校准坐标C_mask_cal_(j)之间相关，根据以下关系确定：

f)将校正图像附加校正以形成最终图像，附加校正包括：

基于校正测量S_Cor_(i,j)并且基于相关步骤e)的结果来计算最终图像的最终测量S_fin_(i,j)。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，所述相关步骤e)包括线性回归，使得列项Col_mask_(j)和校准坐标C_mask_cal_(j)满足以下关系：

Col_mask_(j)＝α.C_mask_cal_(j)+Col_offset

其中α和Col_offset是线性回归期间确定的项。