[发明专利]处理图像的方法

说明书

本发明涉及一种处理由检测器的测辐射热计收集的原始测量的方法，该方法包括：a)计算掩蔽项，该计算包括从给定列的每个掩蔽的测辐射热计的原始测量中减去所述列的掩蔽的测辐射热计的原始测量的平均值；b)使掩蔽项与掩蔽的测辐射热计的校准分量之间相关，根据以下关系确定：所述项是在参考温度下并用掩模来掩蔽检测器获得的掩蔽的测辐射热计参考测量；c)校正原始图像的步骤，该步骤包括基于相关步骤b)的结果来计算每个测辐射热计的校正图像的校正测量。

技术领域

本发明涉及一种处理由具有测辐射热计矩阵的检测器收集的原始图像 的方法。特别地，根据本发明的处理方法旨在校正由于检测器的测辐射热计 的特性的分散而导致的不均匀性。

本发明还涉及一种能够实现根据本发明的方法的所有步骤的计算机程 序。

本发明最后涉及一种包括测辐射热计和实现该计算机程序的计算单元 的检测器。

背景技术

通常，现有技术中已知的红外检测器包括根据n行和m列以矩阵方式布 置的测辐射热计。

当它们通过视域暴露于场景以获取图像时，这些对场景温度敏感的测辐 射热计会经历其电阻的变化。换句话说，在每个测辐射热计中流动的电流取 决于场景温度，并且还取决于环境温度。

特别地，测辐射热计矩阵的测辐射热计Pix_(i,j)的测量S_(i,j)根据以下 定律演变：

其中：

-T_amb是环境温度，更特别的是成像仪的温度；

-T_scene是测辐射热计观测到的场景的温度；

-Resp(T_amb)是测辐射热计的响应度，其取决于环境温度；

-S_0,Tamb是对于场景温度等于环境温度的测辐射热计的输出值。

项Resp(T_amb)取决于用于测辐射热计的设计的材料及其架构。

场景温度的推导要求环境温度T_amb是已知的，因此检测器通常还设置有 温度传感器。

检测器还可以设置有额外的测辐射热计，即所谓的盲测辐射热计，它们 不暴露于场景。在其中流动的电流则仅取决于环境温度。

因此，根据这样的配置，暴露的测辐射热计的电阻变化的确定基于在所 述暴露的测辐射热计和盲测辐射热计中流动的电流之间的差分测量。

通常，测辐射热计矩阵的每列与盲测辐射热计相关，该盲测辐射热计在 差分测量期间针对所述列的每个测辐射热计实施。然而，可以设想其他配置， 尤其是用于若干列测辐射热计的单个盲测辐射热计的公共汇集。

能够用这种装置获得的场景的原始图像(图1)通常是不可利用的，并 且需要额外的处理。

特别地，图1中所示的图像揭示了检测器的测辐射热计的定位，更具体 地说是非均匀性(“像素化效应”)。这种效应起源于在各测辐射热计中的电 阻的显著分散。

该图像还呈现出列状外观，这是由于盲测辐射热计之间的电阻的分散。

为了减轻这些问题，可以设想各种解决方案。

特别地，可以提出在检测器上实施机械快门。特别地，机械快门被放置 在检测器的前面，以便收集与环境温度有关的参考图像，该参考图像随后从 场景的图像中减去。

然而，这种布置原则上相对简单，但并不令人满意。

实际上，快门的实施以及与之相关的机动化都会带来成本和体积问题。