[发明专利]转台重心与转轴中心偏离量测量结构及测量方法在审
申请号: | 201910618758.4 | 申请日: | 2019-07-10 |
公开(公告)号: | CN110411661A | 公开(公告)日: | 2019-11-05 |
发明(设计)人: | 周潘伟;孙建邦;刘士建;李范鸣 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | G01M1/12 | 分类号: | G01M1/12;G01B21/24 |
代理公司: | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 撑角 电子秤 测量 转台 转轴中心 测量面 偏离量 水平尺 主支撑 重心 差值计算 一维转台 质量测量 螺纹 紧凑 | ||
本发明公开了一种转台重心与转轴中心偏离量测量结构及测量方法。测量结构包括测量主支撑,撑角一,撑角二,撑角三,电子秤一,电子秤二,电子秤三,水平尺一,水平尺二;撑角一、撑角二及撑角三分别各通过螺纹与测量主支撑连接,撑角一放置在电子秤一测量面中心位置,撑角二放置在电子秤二测量面中心位置,撑角三放置在电子秤三测量面中心位置。本发明结构合理、简单、紧凑,通过撑角质量测量差值计算转台重心与转轴中心偏离量,测量方法简便易行,成本低,使用方便,适于各种一维转台、特别是体积及质量巨大的转台使用。
技术领域
本发明专利涉及一种转台重心与转轴中心偏离量测量结构,具体涉及一种一维转台重心与转轴中心线偏离量简易测量结构及测量方法。
背景技术
一维转台在设备工作转动时,为了保证运动的稳定性,要尽量使得重心与转轴中心偏离量小,所以为了要验证转台转动时的稳定性需要对转台重心与转轴中心偏离量进行测量。目前有专门的精密仪器设备对物体重心进行测量,但由于一维转台结构形式各异,体积、质量相差太大,用专门的仪器设备对其进行测量需要设计加工各种专用工装,且耗时耗力,成本昂贵,而且对于一些体积、质量特别大的转台则无能为力。
发明内容
本发明的目的在于克服现有的缺点,提供一种结构简单、成本低的一维转台重心与转轴中心线偏离量测量结构,同时提供一种操作简便易行的应用于所述重心测量结构的重心测量方法,适用于各种结构形式的一维转台,更加适合成熟市场化使用,实现转台重心与转轴中心偏离量快速测量。
为达到上述目的,本发明采用下述技术方案:
一种转台重心与转轴中心偏离量测量结构,包括测量主支撑1,撑角一2,撑角二3,撑角三4,电子秤一5,电子秤二6,电子秤三7,水平尺一8,水平尺二9;其特征在于:
所述的测量主支撑1包括支撑圆盘1-1,支撑条一1-2,支撑条二1-3,支撑条三1-4;其结构为:所述的支撑圆盘1-1为不锈钢材料的圆盘结构,厚度为10~30毫米之间,直径比被测转台安装面大100毫米;所述的支撑条一1-2、所述的支撑条二1-3及所述的支撑条三1-4为相同结构及材料,都采用槽铝或槽钢切割,一端倒角并加工出螺纹通孔;轴线一1-5为支撑圆盘1-1轴向几何中心线,支撑条一1-2、支撑条二1-3及支撑条三1-4分别各通过焊接或螺钉与支撑圆盘1-1固定连接,支撑条一1-2、支撑条二1-3及支撑条三1-4无倒角端面与所述的轴线一1-5距离相等,支撑条一1-2、支撑条二1-3及支撑条三1-4在支撑圆盘1-1底面圆形安装面上绕轴线一1-5成圆周三等分分布,投影面1-6为支撑圆盘1-1的上表面,轴线二1-7为支撑条一1-2长度方向在所述的投影面1-6上的中心线,轴线三1-8为支撑条二1-3长度方向在投影面1-6上的中心线,轴线四1-9为支撑条三1-4长度方向在投影面1-6上的中心线,所述的轴线二1-7与所述的轴线三1-8、所述的轴线三1-8与所述的轴线四1-9、所述的轴线二1-7与所述的轴线四1-9夹角都为120°。
所述的撑角一2、所述的撑角二3和所述的撑角三4为相同结构及材料,上端为螺纹杆,下端为圆盘支撑,螺纹杆和圆盘支撑采用万向节连接;撑角一2螺纹杆与所述的测量主支撑1的支撑条一1-2螺纹通孔通过螺纹连接,撑角一2螺纹杆与支撑条一1-2相对位置可以通过螺纹轴向调整并通过螺母固定,撑角一2放置在所述的电子秤一5测量面中心位置;撑角二3螺纹杆与所述的测量主支撑1的支撑条二1-3螺纹通孔通过螺纹连接,撑角二3螺纹杆与支撑条二1-3相对位置可以通过螺纹轴向调整并通过螺母固定,撑角二3放置在所述的电子秤二6测量面中心位置;撑角三4螺纹杆与所述的测量主支撑1的支撑条三1-4螺纹通孔通过螺纹连接,撑角三4螺纹杆与支撑条三1-4相对位置可以通过螺纹轴向调整并通过螺母固定,撑角三4放置在所述的电子秤三7测量面中心位置;所述的水平尺一8放置在测量主支撑1的支撑圆盘1-1上表面边缘位置,所述的水平尺二9放置在测量主支撑1的支撑圆盘1-1上表面边缘位置,水平尺一8与水平尺二9放置成相互垂直状态。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海技术物理研究所,未经中国科学院上海技术物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910618758.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:可以验证刚体转动惯量垂直轴定理的三线摆
- 下一篇:扇叶平衡检测修正一体式设备