[发明专利]一种元器件损耗检测方法、装置、存储介质及终端设备

权利要求书

1.一种元器件损耗检测方法，其特征在于，包括：

采集元器件在当前采样时刻的图像；

对所述元器件在当前采样时刻的图像进行特征编码，得到所述元器件在当前采样时刻的状态特征；

对所述元器件在当前采样时刻的状态特征进行时序编码间的状态融合，得到所述元器件在当前采样时刻的融合状态特征；包括：获取所述元器件在前一采样时刻的融合状态特征；对所述元器件在前一采样时刻的融合状态特征和所述元器件在当前采样时刻的状态特征进行融合处理，得到所述元器件在当前采样时刻的融合状态特征；所述状态融合采用线性或非线性方法进行融合处理；

获取所述元器件在前一采样时刻的状态模式，所述元器件在前一采样时刻的状态模式为根据所述元器件在前一采样时刻的融合状态特征构建的状态模式；包括：使用预设的卷积神经网络对所述元器件在前一采样时刻的融合状态特征进行卷积操作及下采样操作；将所述卷积神经网络最后一层输出的小尺度特征图确定为所述元器件在前一采样时刻的状态模式；

使用所述元器件在前一采样时刻的状态模式对所述元器件在当前采样时刻的融合状态特征进行模式匹配，得到所述元器件在当前采样时刻的模式匹配结果；包括：使用所述元器件在前一采样时刻的状态模式作为卷积核，对所述元器件在当前采样时刻的融合状态特征进行卷积操作，并将卷积操作的结果作为所述模式匹配结果；模式来源于前一时刻的状态特征表示，每一时刻的状态特征表示包含着数据的长期特征记录，待匹配的特征图来源于当前时刻的状态特征表示，模式匹配过程同时存在着当前状态的匹配和其所继承的时序状态信息的匹配；

根据所述元器件在当前采样时刻的模式匹配结果确定所述元器件在当前采样时刻的损耗检测结果。

2.根据权利要求1所述的元器件损耗检测方法，其特征在于，在得到所述元器件在当前采样时刻的模式匹配结果之后，还包括：

根据所述元器件在当前采样时刻的模式匹配结果预测所述元器件在下一采样时刻的损耗检测结果。

3.一种元器件损耗检测装置，其特征在于，该元器件损耗检测装置实现如权利要求1至2任一项所述的元器件损耗检测方法，包括：

图像采集模块，用于采集元器件在当前采样时刻的图像；

特征编码模块，用于对所述元器件在当前采样时刻的图像进行特征编码，得到所述元器件在当前采样时刻的状态特征；

状态融合模块，用于对所述元器件在当前采样时刻的状态特征进行时序编码间的状态融合，得到所述元器件在当前采样时刻的融合状态特征；所述状态融合采用线性或非线性方法进行融合处理；

所述状态融合模块包括：融合状态特征获取单元，用于获取所述元器件在前一采样时刻的融合状态特征；

融合状态特征计算单元，用于对所述元器件在前一采样时刻的融合状态特征和所述元器件在当前采样时刻的状态特征进行融合处理，得到所述元器件在当前采样时刻的融合状态特征；

状态模式获取模块，用于获取所述元器件在前一采样时刻的状态模式，所述元器件在前一采样时刻的状态模式为根据所述元器件在前一采样时刻的融合状态特征构建的状态模式；

网络处理模块，用于使用预设的卷积神经网络对所述元器件在前一采样时刻的融合状态特征进行卷积操作及下采样操作；

状态模式确定模块，用于将所述卷积神经网络最后一层输出的小尺度特征图确定为所述元器件在前一采样时刻的状态模式；

模式匹配模块，用于使用所述元器件在前一采样时刻的状态模式对所述元器件在当前采样时刻的融合状态特征进行模式匹配，得到所述元器件在当前采样时刻的模式匹配结果；包括：使用所述元器件在前一采样时刻的状态模式作为卷积核，对所述元器件在当前采样时刻的融合状态特征进行卷积操作，并将卷积操作的结果作为所述模式匹配结果；

检测模块，用于根据所述元器件在当前采样时刻的模式匹配结果确定所述元器件在当前采样时刻的损耗检测结果。

4.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可读指令，其特征在于，所述计算机可读指令被处理器执行时实现如权利要求1至2任一项所述的元器件损耗检测方法。

5.一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机可读指令，其特征在于，所述处理器执行所述计算机可读指令时实现如权利要求1至2任一项所述的元器件损耗检测方法。