[发明专利]螺纹R值测量方法、装置、计算机设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 201910619805.7 申请日: 2019-07-10
公开(公告)号: CN110500953B 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: 劳永革;段锋;文青;何建枝 申请(专利权)人: 广东嘉铭智能科技有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 罗佳龙
地址: 510030 广东省广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 螺纹 测量方法 装置 计算机 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种内螺纹R值测量方法,所述方法包括:

向激光器发送第一指令,以控制所述激光器发射用于使待测螺纹的螺纹齿高亮的激光线;

向相机发送第二指令,以控制所述相机采集所述待测螺纹的螺纹齿图像;所述螺纹齿图像上显示有多个高亮的螺纹齿廓,其中所述相机的拍摄方向与所述激光线间具有夹角,所述夹角为30度-40度或45度;

获取所述相机采集的螺纹齿图像,确定所述螺纹齿图像上的每个螺纹齿廓的两侧轮廓线,将每个螺纹齿廓的两侧轮廓线的交点,确定为每个螺纹齿廓的基准顶点,根据每个螺纹齿廓的基准顶点,确定所述多个螺纹齿廓的共用基准线;

根据每个螺纹齿廓的基准顶点和所述共用基准线,确定基准区域,遍历所述基准区域,得到每个螺纹齿廓的实际顶点;

获取经过所述实际顶点且与所述共用基准线平行的直线,作为每个螺纹齿廓的参考线;

识别每个螺纹齿廓的两侧轮廓线与所述参考线的交点,得到每个螺纹齿廓的第一交点和第二交点,获取所述第一交点与所述第二交点之间的线段长度,作为所述待测螺纹的每个螺纹齿廓的R值。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述控制所述相机采集所述待测螺纹的螺纹齿图像的步骤之前,还包括:

对所述相机与所述待测螺纹的相对位置进行调整,使得所述相机的拍摄方向与所述待测螺纹上的所述激光线的夹角满足设定条件。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述螺纹齿图像上的每个螺纹齿廓的两侧轮廓线的步骤,包括:

对所述螺纹齿图像上的每个螺纹齿廓进行初定位,得到每个螺纹齿廓的图像;

基于每个螺纹齿廓的图像,确定位于每个螺纹齿廓两侧的多个灰度阶跃点;

对所述多个灰度阶跃点进行拟合,得到每个螺纹齿廓的两侧轮廓线。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据每个螺纹齿廓的基准顶点,确定所述多个螺纹齿廓的共用基准线的步骤,包括:

通过最小二乘法对每个螺纹齿廓的基准顶点进行拟合,得到所述共用基准线。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基准区域为矩形区域。

6.一种内螺纹R值测量装置,其特征在于,所述装置包括:

激光线发射模块,用于向激光器发送第一指令,以控制所述激光器发射用于使待测螺纹的螺纹齿高亮的激光线;

图像采集模块,用于向相机发送第二指令,以控制所述相机采集所述待测螺纹的螺纹齿图像;所述螺纹齿图像上显示有多个高亮的螺纹齿廓;其中,所述相机的拍摄方向与所述激光线间具有夹角,所述夹角为30度-40度或45度;

R值确定模块,用于获取所述相机采集的螺纹齿图像,确定所述螺纹齿图像上的每个螺纹齿廓的两侧轮廓线,将每个螺纹齿廓的两侧轮廓线的交点,确定为每个螺纹齿廓的基准顶点,根据每个螺纹齿廓的基准顶点,确定所述多个螺纹齿廓的共用基准线;还用于根据每个螺纹齿廓的基准顶点和所述共用基准线,确定基准区域,遍历所述基准区域,得到每个螺纹齿廓的实际顶点;还用于获取经过所述实际顶点且与所述共用基准线平行的直线,作为每个螺纹齿廓的参考线;还用于识别每个螺纹齿廓的两侧轮廓线与所述参考线的交点,得到每个螺纹齿廓的第一交点和第二交点,获取所述第一交点与所述第二交点之间的线段长度,作为所述待测螺纹的每个螺纹齿廓的R值。

7.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至5中任一项所述方法的步骤。

8.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至5中任一项所述的方法的步骤。

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