[发明专利]螺纹R值测量方法、装置、计算机设备及存储介质有效
申请号: | 201910619805.7 | 申请日: | 2019-07-10 |
公开(公告)号: | CN110500953B | 公开(公告)日: | 2021-10-26 |
发明(设计)人: | 劳永革;段锋;文青;何建枝 | 申请(专利权)人: | 广东嘉铭智能科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 罗佳龙 |
地址: | 510030 广东省广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 螺纹 测量方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
本申请涉及一种螺纹R值测量方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:向激光器发送第一指令,以控制激光器发射用于使待测螺纹的螺纹齿高亮的激光线;向相机发送第二指令,以控制相机采集待测螺纹的螺纹齿图像;螺纹齿图像上显示有多个高亮的螺纹齿廓;获取相机采集的螺纹齿图像,根据螺纹齿图像中多个高亮的螺纹齿廓,确定待测螺纹的螺纹R值。采用本方法可缩短螺纹齿曲线的获取时间,有效提高螺纹R值的检测精度和测量速度,实用性强。
技术领域
本申请涉及计算机技术领域,特别是涉及一种螺纹R值测量方法、螺纹R值测量装置、计算机设备和计算机可读存储介质。
背景技术
对于高精密的螺纹金属加工件而言,加工质量的把控尤为重要,其中一个用于评定螺纹齿顶端加工质量的关键性指标,即螺纹齿R值。
目前,螺纹齿R值的测量过程一般为,先通过接触式的仪器进行测绘得到接触形曲线,然后基于该曲线测量每个螺纹齿的R值;该方法每分钟可测得1个或2个螺纹齿的R值,测量速度较慢;同时,该测量方式使得相同工件的相同位置在不同时间测量的结果相差较大,重复精度较低。
发明内容
基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种螺纹R值测量方法、装置、计算机设备和存储介质。
一方面,本发明实施例提供一种螺纹R值测量方法,所述方法包括:
向激光器发送第一指令,以控制所述激光器发射用于使待测螺纹的螺纹齿高亮的激光线;
向相机发送第二指令,以控制所述相机采集所述待测螺纹的螺纹齿图像;所述螺纹齿图像上显示有多个高亮的螺纹齿廓;
获取所述相机采集的螺纹齿图像,根据所述螺纹齿图像中多个高亮的螺纹齿廓,确定所述待测螺纹的螺纹R值。
在其中一个实施例中,所述控制所述相机采集所述待测螺纹的螺纹齿图像的步骤之前,还包括:
对所述相机与所述待测螺纹的相对位置进行调整,使得所述相机的拍摄方向与所述待测螺纹上的所述激光线的夹角满足设定条件。
在其中一个实施例中,所述根据所述螺纹齿图像中多个高亮的螺纹齿廓,确定所述待测螺纹的螺纹R值的步骤包括:
确定所述螺纹齿图像上的每个螺纹齿廓的两侧轮廓线;
根据每个螺纹齿廓的两侧轮廓线,确定所述多个螺纹齿廓的共用基准线;
根据每个螺纹齿廓的两侧轮廓线以及所述共用基准线,确定所述待测螺纹的每个螺纹齿廓的R值。
在其中一个实施例中,所述确定所述螺纹齿图像上的每个螺纹齿廓的两侧轮廓线的步骤,包括:
对所述螺纹齿图像上的每个螺纹齿廓进行初定位,得到每个螺纹齿廓的图像;
基于每个螺纹齿廓的图像,确定位于每个螺纹齿廓两侧的多个灰度阶跃点;
对所述多个灰度阶跃点进行拟合,得到每个螺纹齿廓的两侧轮廓线。
在其中一个实施例中,所述根据每个螺纹齿廓的两侧轮廓线,确定所述多个螺纹齿廓的共用基准线的步骤,包括:
将每个螺纹齿廓的两侧轮廓线的交点,确定为每个螺纹齿廓的基准顶点;
根据每个螺纹齿廓的基准顶点,确定所述多个螺纹齿廓的共用基准线。
在其中一个实施例中,所述根据每个螺纹齿廓的基准顶点,确定所述多个螺纹齿廓的共用基准线的步骤,包括:
通过最小二乘法对每个螺纹齿廓的基准顶点进行拟合,得到所述共用基准线。
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