[发明专利]一种QFN芯片的自动测试印字收料设备

权利要求书

1.一种QFN芯片的自动测试印字收料设备，包括设备柜(12)，其特征在于，所述设备柜(12)顶端设置有转盘站(2)，且设备柜(12)顶端依次设置有沿转盘站(2)外圆周分布的振动盘入料站(1)、转向站(3)、测试站(4)、镭射站(6)、不良品排出站(9)、封装卷盘式收料机构(10)和tray盘式收料机构(11)，所述设备柜(12)顶端靠近转盘站(2)与镭射站(6)之间位置处设有镭射打标转盘(5)，所述设备柜(12)顶端靠近转向站(3)和振动盘之间位置处设有用于检测芯片方向的影像检测机构，所述设备柜(12)顶端靠近测试站(4)和镭射站(6)之间位置处设有第一打标检测机构(7)，所述设备柜(12)顶端靠近镭射站(6)与镭射打标转盘(5)之间位置处设有第二打标检测机构(8)，所述设备柜(12)顶端靠近镭射站(6)与转盘站(2)之间位置处设有镭射打标转盘(5)。

2.根据权利要求1所述的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备，其特征在于，所述转盘站(2)包括转盘(2-2)，且转盘(2-2)侧壁边缘位置处固定设置有等距离呈环形分布的真空吸料笔(2-1)，转盘(2-2)底端设有驱动其旋转的转盘驱动马达(2-3)，所述转盘驱动马达(2-3)底端设有支架(2-4)，且支架(2-4)通过螺栓与设备柜(12)形成固定连接，所述转盘站(2)顶端套设有防护罩(14)，所述防护罩(14)顶端连接有L形支撑架(13)，且L形支撑架(13)远离防护罩(14)一端与设备柜(12)顶端通过螺栓固定。

3.根据权利要求2所述的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备，其特征在于，所述振动盘入料站(1)包括振动盘座(1-4)，且所述振动盘座(1-4)顶端一侧设有振动盘(1-1)，所述振动盘座(1-4)顶端设有导料盘(1-2)，所述导料盘(1-2)侧壁边缘位置处设有呈环形分布的环形导料槽，所述导料盘(1-2)侧壁边缘沿切线方向设置有导料槽(1-3)，所述导料槽(1-3)一端与转盘(2-2)相靠近，且导料槽(1-3)另外一端与环形导料槽相连通。

4.根据权利要求3所述的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备，其特征在于，所述转向站(3)包括用于与设备柜(12)固定连接的转向站支架(3-1)，且转向站支架(3-1)一侧设有转向驱动马达(3-3)，所述转向驱动马达(3-3)的输出轴连接有转向轴(3-2)，且转向轴(3-2)连接有导模架。

5.根据权利要求4所述的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备，其特征在于，所述测试站(4)的数量为N个，且N为正整数，所述测试站(4)包括用于与设备柜(12)固定连接的测试站支架(4-1)，且测试站支架(4-1)顶端一侧设有引脚插座(4-2)，且引脚插座(4-2)通过信号线连接有开尔文测试仪。

6.根据权利要求5所述的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备，其特征在于，所述镭射打标转盘(5)包括用于与设备柜(12)连接的打标盘支架(5-3)，且打标盘支架(5-3)一侧设有打标盘驱动马达(5-2)，所述打标盘驱动马达(5-2)输出轴固定连接有打标盘(5-1)。

7.根据权利要求6所述的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备，其特征在于，所述镭射站(6)包括用于与设备柜(12)连接的镭射站支架(6-1)，且镭射站支架(6-1)顶端固定设置有倾斜设置的镭射器(6-2)，所述镭射器(6-2)优选为费雷斯镭射器。

8.根据权利要求7所述的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备，其特征在于，所述第一打标检测机构(7)包括固定设置在设备柜(12)顶端的可调支架(7-1)，且可调支架(7-1)一侧设有光源发生器(7-2)和影像传感器(7-3)。

9.根据权利要求8所述的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备，其特征在于，所述第二打标检测机构(8)包括与设备柜(12)顶端固定连接的基座(8-2)，且基座(8-2)顶端固定设置有3D影像检测器(8-1)。

10.根据权利要求9所述的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备，其特征在于，所述不良品排出站(9)一侧设有与转盘站(2)相适配的进料孔(9-1)，且不良品排出站(9)内设有入料盒(9-2)，所述不良品排出站(9)内设有连通入料盒(9-2)和进料孔(9-1)的滑道，所述不良品排出站(9)数量为N个，且N为正整数。