[发明专利]半导体的图案化离散纳米级掺杂、所述半导体的制造方法和包含所述半导体的制品在审
申请号: | 201910627069.X | 申请日: | 2019-07-11 |
公开(公告)号: | CN110718469A | 公开(公告)日: | 2020-01-21 |
发明(设计)人: | 张远逸;勝又麗香;李明琦;B·C·蒲柏雷;A·T·海特斯彻;P·特雷福纳斯三世;R·A·西格尔马恩 | 申请(专利权)人: | 罗门哈斯电子材料有限责任公司;加利福尼亚大学董事会 |
主分类号: | H01L21/388 | 分类号: | H01L21/388;C08F293/00 |
代理公司: | 31100 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 陈哲锋;胡嘉倩 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 掺杂物 聚合物 衬底 退火 掺杂物扩散 掺杂物原子 共聚物包含 共价键合 离子键合 体积分数 共聚物 溶剂 掺杂 | ||
1.一种用于掺杂衬底的方法,所述方法包括:
将包含含掺杂物的共聚物和溶剂的组合物设置在衬底上;其中所述含掺杂物的共聚物包含第一掺杂物;并且
将所述衬底在750℃至1300℃的温度下退火0.1秒至24小时,以使掺杂物扩散到所述衬底中;
其中所述含掺杂物的共聚物包含不含掺杂物的聚合物和含掺杂物的聚合物;并且其中所述含掺杂物的聚合物是具有共价键合或离子键合的掺杂物原子的聚合物,并且以比所述不含掺杂物的聚合物更小的体积分数存在。
2.如权利要求1所述的方法,所述方法进一步包括:用第二掺杂物掺杂所述衬底,所述第二掺杂物不同于所述第一掺杂物。
3.如权利要求1所述的方法,其中,掺杂物选自硼、磷、砷、铋、锑、铋、锂和镓。
4.如权利要求1至3中任一项所述的方法,其中,所述衬底包括硅、镓和锗中的一种或多种。
5.如权利要求1所述的方法,其中,所述掺杂物扩散到所述衬底中的深度小于或等于10纳米。
6.如权利要求1所述的方法,其中,所述共聚物是嵌段共聚物,并且包括丙烯酸酯嵌段和包含掺杂物的嵌段。
7.如权利要求6所述的方法,其中,所述包含掺杂物的嵌段为聚(4-(4,4,5,5-四甲基-1,3,2-二氧杂戊硼烷-2-基)丙烯酸苄酯)。
8.一种组合物,所述组合物包含:
含掺杂物的共聚物;其中所述含掺杂物的共聚物包含不含掺杂物的聚合物和含掺杂物的聚合物;并且其中所述含掺杂物的聚合物是具有共价键合的掺杂物原子的聚合物,并且以比所述不含掺杂物的聚合物更小的体积分数存在;以及
溶剂。
9.如权利要求8所述的组合物,其中,所述含掺杂物的聚合物是聚(4-(4,4,5,5-四甲基-1,3,2-二氧杂戊硼烷-2-基)丙烯酸苄酯),并且其中,所述聚(4-(4,4,5,5-四甲基-1,3,2-二氧杂戊硼烷-2-基)丙烯酸苄酯)用二硫酯封端。
10.一种方法,所述方法包括:
在溶剂中混合不含掺杂物的具有不饱和基团的反应性物质、具有不饱和基团的含掺杂物的单体、引发剂和可逆加成断裂链转移剂;并且
使所述不含掺杂物的具有不饱和基团的的反应性物质、所述具有不饱和基团的含掺杂物的单体、所述引发剂和所述可逆加成断裂链转移剂反应以形成共聚物。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于罗门哈斯电子材料有限责任公司;加利福尼亚大学董事会,未经罗门哈斯电子材料有限责任公司;加利福尼亚大学董事会许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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