[发明专利]一种用于提供应力测试电压的电路

说明书

本发明公开了一种用于提供应力测试电压的电路，包括POL测试电路，还包括用于控制POL测试电路的输出电压的控制电路；控制电路包括与第一分压电阻并联以提供高余量电压的高余量控制电路；与第二分压电阻并联以提供低余量电压的低余量控制电路；高余量控制电路包括第一余量电阻和第一开关；低余量控制电路包括第二余量电阻和第二开关。因此，该电路仅通过控制开关的闭合与断开即可输出高、低余量两种测试电压，避免了通过拆卸与重装电阻的方式获取测试电压，大大提高了对硬件装置的检测效率，更加节省人力资源，提高了检测得便捷性与准确性。

技术领域

本发明涉及系统测试领域，特别是涉及一种用于提供应力测试电压的电路。

背景技术

检测待测装置在高、低余量电压条件下能否正常工作是衡量该装置稳定性的重要步骤。目前，通常采用负载转换器(POL)测试电路为待测装置提供需要的高、低余量测试电压，将POL测试电路的输出电压作为待测装置的测试电压，POL测试电路如图1所示。该测试电路是通过拆卸电路中的分压电阻并更换为其他阻值的电阻的方式为被测装置提供高、低余量测试电压。例如，正常情况下POL测试电路输出5V电压作为待测装置正常工作时的电压；当对被测装置进行5.25V高余量电压测试时，需拆卸POL测试电路中的分压电阻，并通过计算来选定具有其他合适阻值的电阻，并将其重装至POL测试电路中使该电路输出电压为5.25V，并将5.25V作为高余量测试电压直接输入被测装置；同理，当被测装置需要4.75V低余量的测试电压时，仍需要拆卸分压电阻并重装其他阻值的电阻使POL测试电路输出电压为4.75V。

由上述可知，采用以上方式需要对分压电阻进行人工拆卸，并重新装入其他阻值电阻。但频繁地拆卸和重装分压电阻会导致在实际操作中工作繁杂，尤其在对大量被测装置进行测试时，需要人工多次进行手动更换，易造成误操作，并且需要花费大量时间，效率较低。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于提供应力测试电压的电路，能够无需对分压电阻进行人工拆卸便可提供合适的电阻阻值，从而为被测装置提供高、低余量测试电压，使检测过程更便捷、更高效。

为解决上述技术问题，本发明提供一种用于提供应力测试电压的电路，包括POL测试电路，还包括：用于控制所述POL测试电路的输出电压的控制电路；所述控制电路包括：与第一分压电阻并联以提供高余量电压的高余量控制电路；与第二分压电阻并联以提供低余量电压的低余量控制电路；

所述高余量控制电路包括第一余量电阻和与所述第一余量电阻串联以控制所述第一余量电阻的接入或断开的第一开关；

所述低余量控制电路包括第二余量电阻和与所述第二余量电阻串联以控制所述第二余量电阻的接入或断开的第二开关。

优选地，还包括：用于向所述第一开关和所述第二开关提供通断信号的开关控制器件。

优选地，所述开关控制器件的数量具体为1个。

优选地，所述第一开关具体为第一N-MOSFET；所述第二开关具体为第二N-MOSFET；

所述开关控制器件与所述第一N-MOSFET的栅极连接，所述第一N-MOSFET的漏极与所述第一余量电阻的一端连接，所述第一N-MOSFET的源极与所述第一分压电阻的一端连接；

所述开关控制器件与所述第二N-MOSFET的栅极连接，所述第二N-MOSFET的漏极与所述第二余量电阻的一端连接，所述第二N-MOSFET的源极与所述第二分压电阻的一端连接。

优选地，所述开关控制器件具体为CPLD。

优选地，所述第一余量电阻和所述第二余量电阻具体为可调电阻。

优选地，还包括：电压传感器；

所述电压传感器与所述POL测试电路的输出端连接，用于检测所述输出电压的电压值。