[发明专利]一种延时链多行读取阵列和补偿电路结构有效
申请号: | 201910635294.8 | 申请日: | 2019-07-15 |
公开(公告)号: | CN110491424B | 公开(公告)日: | 2021-07-27 |
发明(设计)人: | 蔺智挺;阮兵芹;卢文娟;彭春雨;吴秀龙;黎轩;陈军宁 | 申请(专利权)人: | 安徽大学 |
主分类号: | G11C7/12 | 分类号: | G11C7/12;G11C8/08;G11C11/418;G11C11/419 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;陈亮 |
地址: | 230601 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 延时 链多行 读取 阵列 补偿 电路 结构 | ||
1.一种延时链多行读取阵列和补偿电路结构,其特征在于,所述电路结构包括延时链电路信号产生电路、6T单元阵列电路和电流镜补偿电路,所述6T为6晶体管,其中:
所述延时链电路信号产生电路利用延时链电路来产生控制字线WL的信号,该延时链电路信号产生电路的器件包括多个反相器,前一个反相器的输出连接后一个反相器的输入,串联在一起,通过调节反相器数目和规格参数得到成比例的脉冲信号,将输出的脉冲信号与WL信号相接成与门的两个输入端,得到控制信号8T,4T,2T和1T,并输入到所述6T单元阵列电路;
所述6T单元阵列电路包括单元I0,I1、I2、I3和6T,其中,所述单元I0是一个交叉耦合的反相器,它与传统的6T单元中交叉耦合反相器是一样的,整个阵列是6T单元阵列;
所述电流镜补偿电路包括PMOSFET晶体管M0、PMOSFET晶体管M1、NMOSFET晶体管M2、NMOSFET晶体管M3,其中:
PMOSFET晶体管M0的源极接VDD,漏极与PMOSFET晶体管M1的漏极连接,栅极连接控制信号WLB3,其中该控制信号WLB3是由所述延时链电路信号产生电路产生的控制信号8T、4T、2T、1T中的8T控制信号;
PMOSFET晶体管M1的源极连接NMOSFET晶体管M2的漏极和栅极,并和NMOSFET晶体管M3的栅极连接,PMOSFET晶体管M1的栅极连接至位线BLB,当电压达到PMOSFET晶体管M0开启所需的电压时,该电流镜补偿电路开始工作;
NMOSFET晶体管M2的源极连接地;
NMOSFET晶体管M3的漏极连接位线BLB,且该NMOSFET晶体管M3的源极连接地;
利用WLB3信号和PMOSFET晶体管M0来控制所述电流镜补偿电路的开启,位线BLB通过复制的电流通路放电,从而达到补偿的目的。
2.如权利要求1所述延时链多行读取阵列和补偿电路结构,其特征在于,所述控制信号8T,4T,2T、1T与所述6T单元阵列电路的连接关系为:
PMOSFET晶体管P4的栅极与PMOSFET晶体管P5的栅极相连,并接预充电压Precharge_B,Precharge_B接VDD;
PMOSFET晶体管P4的源极与PMOSFET晶体管P5的源极相连并接VDD;PMOSFET晶体管P4的漏极与余下的NMOSFET晶体管N7,N9,N11,N13的源极相接;
PMOSFET晶体管P5的漏极与余下的NMOSFET晶体管N8,N10,N12,N14的源极相接;
NMOSFET晶体管N7的栅极与NMOSFET晶体管N8的栅极相接,并接8T控制信号;
NMOSFET晶体管N9的栅极与NMOSFET晶体管N10的栅极相接,并接4T控制信号;
NMOSFET晶体管N11的栅极与NMOSFET晶体管N12的栅极相接,并接2T控制信号;
NMOSFET晶体管N13的栅极与NMOSFET晶体管N14的栅极相接,并接1T控制信号。
3.如权利要求1所述延时链多行读取阵列和补偿电路结构,其特征在于,所述6T单元阵列电路中单元I0的具体电路连接关系为:
PMOSFET晶体管P6的漏极,与PMOSFET晶体管P7的栅极、NMOSFET晶体管N6的栅极、NMOSFET晶体管N5的漏极电连接;
PMOSFET晶体管P7的漏极,与PMOSFET晶体管P6的栅极、NMOSFET晶体管N5的栅极、NMOSFET晶体管N6的漏极连接;
NMOSFET晶体管N5的源极与NMOSFET晶体管N6的源极相接并接地;
PMOSFET晶体管P6的源极与PMOSFET晶体管P7的源极相接并接VDD;
NMOSFET晶体管N7的漏极与I0单元中PMOSFET晶体管P6的漏极及NMOSFET晶体管N5的漏极电连接,NMOSFET晶体管N7的栅极与NMOSFET晶体管N8的栅极电连接,NMOSFET晶体管N7的源极接位线BL;
NMOSFET晶体管N8的漏极与PMOSFET晶体管P7的漏极及NMOSFET晶体管N6的漏极电连接,NMOSFET晶体管N8的源极接位线BLB;
NMOSFET晶体管N7的栅极和NMOSFET晶体管N8栅极连接并连接字线WL。
4.如权利要求1所述延时链多行读取阵列和补偿电路结构,其特征在于,所述6T单元阵列电路中6T单元的电路结构具体为:
VDD和PMOSFET晶体管P1的源极电连接,同时VDD也与PMOSFET晶体管P2的源极电连接;NMOSFET晶体管N1的源极NMOSFET晶体管N2的源极电连接并接地;
PMOSFET晶体管P1的漏极,与PMOSFET晶体管P2的栅极、NMOSFET晶体管N2的栅极、NMOSFET晶体管N1的漏极电连接;
PMOSFET晶体管P2的漏极,与PMOSFET晶体管P1的栅极、NMOSFET晶体管N1的栅极、NMOSFET晶体管N2的漏极连接;
NMOSFET晶体管N3的漏极与PMOSFET晶体管P1的漏极及NMOSFET晶体管N1的漏极电连接,NMOSFET晶体管N3的栅极与NMOSFET晶体管N4的栅极连接,NMOSFET晶体管N3的源极接位线BL;
NMOSFET晶体管N4的漏极与PMOSFET晶体管P2的漏极及NMOSFET晶体管N2的漏极电连接,NMOSFET晶体管N4的源极接位线BLB;
NMOSFET晶体管N3的栅极和NMOSFET晶体管N4栅极连接并连接地。
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