[发明专利]磷烯晶向的识别方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种磷烯晶向的识别方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待识别磷烯的目标特征峰的拉曼散射光谱信息；其中，所述拉曼散射光谱信息为在拉曼系统散射光路无检偏模式下，在不同入射光偏振方向时采集的目标特征峰的原始拉曼散射光谱信息；

从所述目标特征峰的拉曼散射光谱信息中，提取出所述目标特征峰对应的拉曼强度数据；

基于预设的所述目标特征峰对应的拉曼散射强度公式，对所述目标特征峰对应的拉曼强度数据进行拟合，得到所述待识别磷烯的晶向所在角度；所述目标特征峰包括：B_2g特征峰、A_g特征峰的第一子峰A_g¹峰或者所述A_g特征峰的第二子峰A_g²峰；

当所述目标特征峰为B_2g特征峰时，基于预设的所述目标特征峰对应的拉曼散射强度公式，对所述目标特征峰对应的拉曼强度数据进行拟合，得到所述待识别磷烯的晶向所在角度的步骤，包括：

利用所述B_2g特征峰对应的第一拉曼散射强度公式(1)，拟合所述B_2g特征峰对应的拉曼强度数据，得到所述待识别磷烯的第一晶向所在角度；

(1)

其中，代表B_2g特征峰在无检偏模式时的拉曼散射强度；Γ、Λ、Ψ代表磷烯拉曼散射特征的常数参量；θ为磷烯的锯齿形ZZ晶向相对水平方向X轴的夹角，也是所述待识别磷烯的第一晶向所在角度，j为入射光相对水平X轴的偏振角度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述目标特征峰为A_g特征峰的第一子峰A_g¹峰或者所述A_g特征峰的第二子峰A_g²峰时，基于预设的所述目标特征峰对应的拉曼散射强度公式，对所述目标特征峰对应的拉曼强度数据进行拟合，得到所述待识别磷烯的晶向所在角度的步骤，包括：

利用所述A_g特征峰的第一子峰A_g¹峰或者所述A_g特征峰的第二子峰A_g²峰对应的第二拉曼散射强度公式(2)，拟合所述A_g特征峰的第一子峰A_g¹峰或者所述A_g特征峰的第二子峰A_g²峰对应的拉曼强度数据，得到所述待识别磷烯的第二晶向所在角度、第三晶向所在角度；

(2)

式中，代表无检偏模式时A_g特征峰的拉曼散射强度；Γ、Λ代表磷烯拉曼散射特征的常数参量；θ为磷烯的锯齿形ZZ晶向相对水平方向X轴的夹角，也是所述待识别磷烯的第二晶向所在角度、第三晶向所在角度，j为入射光相对水平X轴的偏振角度。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

求取所述第二晶向所在角度和所述第三晶向所在角度的平均值；

将所述平均值作为所述待识别磷烯的第四晶向所在角度。