[发明专利]一种探测器阵列靶标定方法

说明书

一种探测器阵列靶标定方法，该系统包括光斑获取装置，第一分光镜、第二分光镜、功率计、到第一分光镜距离相同的定标探测器模块和待标定的探测器阵列靶，光斑获取装置输出的光斑经过第一分光镜后分别发射到定标探测器模块、探测器阵列靶上，设置在光路上的第二分光镜分出一束光发射到功率计上；第一二维扫描平台和第二二维扫描平台使对应的定标探测器模块和探测器阵列靶均在正对光斑的平面上进行设定路径的全覆盖扫描。本发明中定标探测器模块与功率计配合获得光斑获取装置输出的标定光源的真实功率密度，二维扫描平台的设置保证了定标探测器模块和探测器阵列靶在设定路径上进行全覆盖扫描时的直线度以及运行精度。

技术领域

本发明涉及探测器阵列靶标定的技术领域，尤其涉及一种探测器阵列靶标定方法。

背景技术

为定量分析激光发射系统的性能参数，需要测量激光光斑的绝对功率密度时空分布，以得到激光光斑的总功率、光斑尺寸、功率密度时空分布等多种参数，为综合判断其光束质量提供依据。待标定的探测器阵列靶是一种用于测量激光束功率密度时空分布和总功率等参数的的专用测量设备。待标定的探测器阵列靶一般由几十至几千个探测器单元通道组成。待标定的探测器阵列靶将辐照在靶面上的光斑强度信息，经各取样通道取样后转化为量化的数字信息，再经数据处理复原出光斑的强度分布，并计算出所需测量的各项激光参数。对待标定的探测器阵列靶的标定就是寻找探测器各取样通道经数字化的AD响应值与辐照在探测器取样孔上的功率密度间的关系。主要有两个难点，一是如何测量出真实功率密度ρ，另一个是获得AD值与真实功率密度ρ间的关系。为了确保探测器阵列靶的测量精度，需要搭建标定系统，利用标准辐射源对探测器阵列靶进行标定工作。目前，对探测器阵列靶的标定存在难度大，成本高，效率低等问题。

发明内容

为了提供一种结构简单、成本低、效率高的探测器阵列靶标定系统，为此，本发明的具体方案为：

一种探测器阵列靶标定系统，包括光斑获取装置，第一分光镜、第二分光镜、功率计、到第一分光镜距离相同的定标探测器模块和待标定的探测器阵列靶，所述光斑获取装置输出的光斑经过第一分光镜后分别发射到定标探测器模块、待标定的探测器阵列靶上，设置在光路上的第二分光镜分出一束光发射到功率计上；所述定标探测器模块和待标定的探测器阵列靶上分别对应设置有第一二维扫描平台和第二二维扫描平台，第一二维扫描平台和第二二维扫描平台使对应的定标探测器模块和待标定的探测器阵列靶均在正对光斑的平面上进行设定路径的全覆盖扫描。

为了实现标定，使用上述标定系统的方法为：

使用上述探测器阵列靶标定系统的方法，具体步骤如下：

S1、搭建系统，根据待标定的探测器阵列靶测量波长及功率密度范围，匹配合适的光斑获取装置，然后搭建系统；

S2、数据处理控制单元控制第一二维扫描平台带动标准的定标探测器模块按照设定路径进行单点扫描，扫描完成后，信号调理采样单元采集到标准的定标探测器模块中的探测器单元的AD响应值，然后传输到数据处理控制单元中，数据处理控制单元获取功率计统计的光斑总功率P_sum，计算出真实功率密度ρ；

S3、数据处理控制单元控制第二二维扫描平台带动待标定的探测器阵列靶移动，使其中每个探测器单元依次按照设定路径对光斑进行单点扫描，信号调理采样单元将获得的所有探测器单元对应的AD响应值传输到数据处理控制单元中进行处理，然后根据每个探测器单元的AD响应峰值与步骤S2中真实功率密度ρ，建立各探测器单元对应的AD响应峰值与真实功率密度ρ的数学模型，实现对待标定的探测器阵列靶中各探测器单元的标定。

本发明的优点在于：