[发明专利]获取校准系数的方法、装置及校准芯片

权利要求书

1.一种获取校准系数的方法，其特征在于，包括：

将接地的测试治具压合到待校准传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到所述待校准传感器的治具测量电容值；

根据校准函数以及所述治具测量电容值得到所述待校准传感器的校准系数；所述校准函数用于指示通过用户压合到合格传感器的敏感元件所在区域上检测得到的电容值和利用接地的测试治具压合到所述合格传感器的敏感元件所在区域上检测得到的电容值之间的转换关系，所述校准系数对所述待校准传感器检测的电容值进行校准。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据校准函数以及所述治具测量电容值得到所述待校准传感器的校准系数，包括：

将所述治具测量电容值代入所述校准函数计算得到所述待校准传感器的估算电容值；

根据所述待校准传感器的估算电容值以及所述合格传感器的用户参考电容值计算得到所述待校准传感器的校准系数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述待校准传感器的估算电容值以及所述合格传感器的用户参考电容值计算得到所述待校准传感器的校准系数，包括：

将所述用户参考电容值和所述估算电容值之间的比值作为所述待校准传感器的校准系数。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述校准函数预先存储于校准装置中。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

通过用户压合到所述合格传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到所述合格传感器的用户参考电容值；

将接地的测试治具压合到所述合格传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到所述合格传感器的治具参考电容值；

根据所述用户参考电容值和所述治具参考电容值得到所述校准函数。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，通过用户压合到所述合格传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到所述合格传感器的用户参考电容值，包括：

获取利用至少一个用户在所述合格传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到的至少一个用户测量电容值；

计算所述至少一个用户测量电容值的平均值作为所述用户参考电容值。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述用户参考电容值和所述治具参考电容值得到所述校准函数，包括：

将所述用户参考电容值和所述治具参考电容值代入预设公式计算所述预设公式中的预设参数值，所述预设参数值包括接地电容值，所述接地电容值用于指示用户和接地点之间的电容值；

将所述预设参数值代入所述预设公式得到所述校准函数。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，将所述用户参考电容值和所述治具参考电容值代入预设公式计算所述预设公式中的预设参数值，包括：

利用测试治具产生的电容和接地电容串联的总电容是用户产生的电容的关系，根据所述用户参考电容值和所述治具参考电容值计算得到所述接地电容值。

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，将所述用户参考电容值和所述治具参考电容值代入预设公式计算所述预设公式中的预设参数值，包括：

利用测试治具产生的电容、接地电容以及用户和防护层之间的电容串联的总电容是用户产生的电容的关系，根据所述用户参考电容值、所述治具参考电容值和所述用户和防护层之间的电容值计算得到所述接地电容值。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述防护层与敏感元件之间设计面积的比值以及利用测试治具在传感器上进行检测得到的电容值，计算所述用户和防护层之间的电容值。

11.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，

所述接地电容是用户和远地点之间的远地电容以及用户和近地点之间的近地电容并联的总电容。