[发明专利]获取校准系数的方法、装置及校准芯片

说明书

本申请实施例提供一种获取校准系数的方法、装置及校准芯片，获取校准系数的方法包括：将接地的测试治具压合到待校准传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到待校准传感器的治具测量电容值；根据校准函数以及治具测量电容值得到待校准传感器的校准系数；校准函数用于指示用户在合格传感器上检测得到的电容值和利用测试治具在合格传感器上检测得到的电容值之间的转换关系，校准系数用于对待校准传感器检测的电容值进行校准。使得传感器都能够与合格传感器的佩戴性能保持精确度一致，校准系数更加准确，提高了校准效率。

技术领域

本申请实施例涉及传感器技术领域，尤其涉及一种获取校准系数的方法、装置及校准芯片。

背景技术

电子设备的发展越来越快，为了提高用户体验，用户和机器设备的交互方式更加智能化，例如用户可以是用户，触控操作、智能化检测等，都是通过检测用户与设备的接触实现人机交互。在检测用户与设备接触的方案中，电容式传感器因为安装简便、成本低廉，应用更加广泛。

但是，因为用户和电容式传感器接触时，除了用户和电容式传感器内部的敏感元件之间的耦合电容外，敏感元件还存在两个接地点，分别为近地点和远地点，用户和近地点之间的耦合电容，以及用户和远地点之间的耦合电容会影响电容式传感器的检测结果，因此，电容式传感器因为用户和接地点之间的耦合电容与利用测试治具检测的值之间存在误差，存在检测不够准确的缺陷，如果要对电容式传感器进行校准的话，实际量产阶段无法对每个电容式传感器进行大量用户测试获得校准系数，这样会让效率变得过于低下，况且校准系数会随着用户群体的差异而变化，校准系数也不够准确。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例所解决的技术问题之一在于提供一种获取校准系数的方法、校准装置及校准芯片，用以克服现有技术中电容式传感器因为实际量产阶段无法对每个电容式传感器进行大量用户测试获得校准系数，存在校准系数不够准确的缺陷。

第一方面，本申请实施例提供了一种获取校准系数的方法，其包括：

将接地的测试治具压合到待校准传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到待校准传感器的治具测量电容值；

根据校准函数以及治具测量电容值得到待校准传感器的校准系数；校准函数用于指示通过用户压合到合格传感器的敏感元件所在区域上检测得到的电容值和利用接地的测试治具压合到合格传感器的敏感元件所在区域上检测得到的电容值之间的转换关系，校准系数用于对待校准传感器检测的电容值进行校准。

可选地，在本申请的一个实施例中，根据校准函数以及治具测量电容值得到待校准传感器的校准系数，包括：

将治具测量电容值代入校准函数计算得到待校准传感器的估算电容值；

根据待校准传感器的估算电容值以及合格传感器的用户参考电容值计算得到待校准传感器的校准系数。

可选地，在本申请的一个实施例中，根据用户参考电容值和估算电容值确定待校准传感器的校准系数，包括：将用户参考电容值和估算电容值之间的比值作为待校准传感器的校准系数。

可选地，在本申请的一个实施例中，校准函数预先存储于校准装置中。

可选地，在本申请的一个实施例中，该方法还包括：

通过用户压合到合格传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到合格传感器的用户参考电容值；

将接地的测试治具压合到合格传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到合格传感器的治具参考电容值；

根据用户参考电容值和治具参考电容值得到校准函数。

可选地，在本申请的一个实施例中，通过用户压合到合格传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到合格传感器的用户参考电容值，包括：