[发明专利]一种用于薄片化双面电池的背面氮化硅叠层膜的制备方法在审
申请号: | 201910650900.3 | 申请日: | 2019-07-18 |
公开(公告)号: | CN111584665A | 公开(公告)日: | 2020-08-25 |
发明(设计)人: | 杨露;刘大伟;倪玉凤;张天杰;宋志成 | 申请(专利权)人: | 国家电投集团西安太阳能电力有限公司;国家电投集团西安太阳能电力有限公司西宁分公司;青海黄河上游水电开发有限责任公司;国家电投集团黄河上游水电开发有限责任公司 |
主分类号: | H01L31/056 | 分类号: | H01L31/056;H01L31/0216;H01L31/18;C23C16/34;C23C16/455 |
代理公司: | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人: | 安曼 |
地址: | 710099 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 薄片 双面 电池 背面 氮化 硅叠层膜 制备 方法 | ||
本专利提供了一种适用于薄片化双面电池的背面氮化硅叠层膜的制备方法,其特征在于,在电池背面沉积SiNx薄膜步骤中沉积至少2层SiNx薄膜;所述电池背面沉积的SiNx薄膜是由不同折射率、不同厚度的SiNx薄膜周期性排列形成的叠层膜结构;所述SiNx薄膜的厚度为10‑100nm,折射率为1.5‑2.2,沉积时间为100‑600s。本发明的SiNx叠层膜是采用PECVD方法制备,通过改变SiH4和NH3的流量大小及沉积时间获得不同折射率和不同厚度的SiNx膜层,从而调控其光子带隙中心波长的位置,反射特定波长的光。本发明通过采用背面SiNx叠层膜形式,增加背面长波光的反射率,有效提升了光吸收率,对短路电流有明显的增益,提高了电池的转换效率。
技术领域
本发明涉及一种双面太阳能电池领域,特别是薄片化双面电池的沉积制备。
背景技术
随着我国电价平价上网政策的不断推进,硅片厚度减小是太阳能电池成本降低最直接有效的措施,但硅片厚度减薄会使长波的吸收损失更加明显,短路电流密度降低,从而影响N型太阳电池效率的提升。以N-PERT为代表的N型高效光伏电池受到研究者和企业的关注。N-PERT电池具有少子寿命高,效率提升空间大等优点,且可以与Topcon技术很好的对接。因此在晶硅电池的背面沉积一层能够调控入射太阳光的钝化薄膜,对改善电池的光利用率,进而提高电池的光电转换效率具有重要的意义。
常规太阳能电池对长波的吸收能力较差,导致长波光直接穿透电池而不能被有效吸收,降低了太阳能电池的光捕获率和转换效率。此外,随着平价上网的不断推进,硅片厚度减小是降低太阳能电池成本最直接有效的措施,但硅片厚度减薄会使长波的吸收损失更加明显,短路电流密度降低,从而影响N型太阳电池效率的提升。因此在晶硅电池的背面沉积一层能够调控入射太阳光的背膜,对改善电池的长波利用率,进而提高电池的光电转换效率具有重要的意义。
光子晶体:是一种介电常数随空间周期性变化的具有光子带隙的结构,对光具有一定的调控作用。当入射光的频率与光子带隙匹配时,入射光被全部反射,不能穿透光子晶体。
SiNx叠层膜:由两种不同折射率ni(i=1,2)、不同厚度xi(i=1,2)的SiNx 膜周期性排列而成,此周期性排列的SiNx膜形成光子晶体。通过调节两种SiNx 薄膜的折射率ni(i=1,2)和厚度xi(i=1,2)改变光子晶体膜的光子带隙,从而实现对长波长光的反射目的,提高电池的光利用率。
发明内容
本发明的主要目的在于研制一种适用于薄片化双面电池的背面氮化硅叠层膜的制备方法,在电池背面沉积SiNx薄膜步骤中沉积至少2层SiNx薄膜;所述电池背面沉积的SiNx薄膜是由不同折射率、不同厚度的SiNx薄膜周期性排列形成的叠层膜结构,此周期性排列的SiNx膜形成了光子晶体;所述SiNx薄膜的厚度为10-100nm,折射率为1.5-2.2,沉积时间为100-600s。
更进一步,所述电池背面的SiNx薄膜是由两层SiNx薄膜周期性排列形成,第一层SiNx薄膜的折射率n1为1.5-1.8,第二层SiNx薄膜的折射率n2为 1.9-2.2。
更进一步,制备所述第一层SiNx薄膜的SiH4流量为400-500sccm,NH3 流量为3000-4000sccm;制备所述第二层SiNx薄膜的SiH4流量为600-800 sccm,NH3流量为2000-4000sccm。
本发明与现有技术相比存在以下优点和积极效果:
1)本发明提供的适用于薄片化双面电池的背面SiNx叠层膜,是通过PECVD 方法沉积SiNx叠层结构,可以将穿透电池的光反射回电池内部,提高电池的光利用率,从而使光电转换效率得到提升。
2)本发明提供的适用于薄片化双面电池的背面SiNx叠层膜基于光子晶体的慢光效应也可增强电池的光吸收能力。该光子晶体光子带隙中心波长可在 380-1100nm之间任意调节,禁带中心波长的反射率最高可达99%。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的